供应无损膜厚仪、X射线测厚仪
| 价 格： | 面议 |
类型:镀层测厚仪 品牌:CMI 型号:CMI900 测量范围:100000（mm） 显示方式:电脑 电源电压:220（V） 外形尺寸:800*600*600（mm）
深圳市鼎极天电子有限公司(台湾属于总代理，中国大陆一级代理商（大陆没有总代理）,销售及维修X射线荧镀层测厚仪,获得英国牛津公司颁发2007年亚洲区CMI900销售获杯。
CMI做为品牌在PCB,五金瑞子连接器及电镀行业已形成一个行业标准，南华地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具
X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 950金属镀层厚度的测量
CMI 900 / 950 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层
厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B ：度于世界C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
CMI900/950主要技术规格如下：
No. | 主要规格 | 规格描述 | |
1 | X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | |
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | |||
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 | |||
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 X射线管功率可编程控制 | |||
装备有安全防射线光闸
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2 | 滤光片程控交换系统 | 根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统 | |
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | |||
位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
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3 | 准直器程控交换系统 | 最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 | |
多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |
在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
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5 | X射线探测系统 | 封气正比计数器 | |
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
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6 | 样品室 | CMI900 | CMI950 |
| －样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 |
－样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－XY轴程控移动范围 | 标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm | |
－XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | ||
快速订购：13632841466或0755-27832900-13
E_mai：zhangjuntao1@tom.com
联系人：张军涛
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- 传真：0755-27832911
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供应电镀膜厚仪
信息内容：类型:薄膜测厚仪 品牌:CMI 型号:CMI700/760 测量范围:0.01-200（mm） 显示方式:电脑 电源电压:220（V） 外形尺寸:600*350*400（mm）CMI做为品牌在PCB行业已形成一个行业标准，90%以上的大型企业都在使用CMI700 / 760做为同时测量电路板孔铜及面铜厚度的行业工具 CMI700-PCB多功能孔铜/面铜测厚仪 功能一:测PCB板表面铜(微电阻原理)1) 配置SRP探头及标准片,利用微电阻原理,可测量大面积或细小铜箔厚度测量范围:125-300um(5.0-12.0mil)功能二:测PCB板孔铜(电涡流原理)1)测量PCB板大孔内铜厚:配置ETP探头及标准片,测量范围:孔径0.89--3.0mm2)PCB微孔测量配置ERP台及探头和标准片,测量孔径在0.25-0.8mm功能三:测量PCB板绿油厚度(阻焊膜)配置ECP探头测量导体上覆盖的非导体测量范围厚度为:0--1000umCMI700线路板面孔铜镀层测厚仪 CMI 700：高灵活性的铜厚测试仪 牛津仪器测厚仪器CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 CMI 700可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使...
