Hawk 200三维测量显微镜高精度测量显微镜
| 价 格： | 1.00 |
品牌:英国VISION 型号:Hawk 200三维测量显微镜高精度测量显微镜 类型:Hawk 200三维测量显微镜高精度测量显微镜 定位精度:0.002（mm） 外形尺寸:800*600（mm） 适用范围:英国工业显微镜有限公司的Hawk 200非接触式测量显微镜提供高可重复性的精度，能针对任何材料制造的复杂元器件进行3-坐标测量。
Hawk 200三维测量显微镜 - 综述 英国工业显微镜有限公司的Hawk 200非接触式测量显微镜提供高可重复性的精度，能针对任何材料制造的复杂元器件进行3-坐标测量。从简单的手工、单一特性作业至复杂的元器部件测量，Hawk 200为各类的测量要求提供组合式的和灵活的解决方案。 复杂元器件的准确测量通过使用高对比度、高分辨率光学成像来完成，为快捷和简易的测量，能提供强化的表面清晰度。关键的零部件能地被测量。 Hawk 200三坐标测量机 - 详细说明Hawk 200是以精密和简易为主而设计，从而非常适用于对各类型的元器件形状的常规质量管理。Hawk 200给予令人钦佩的度、可重复性以及重现性，并有各类的选配件和附属配件可供选配，其中包括成像采集、全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别（VED）。优异的光学技术精密元器件的非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。Hawk 200采用英国工业显微镜有限公司的专利高能光学技术，为快捷和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。 有所视频系统数码化光学信息。Hawk 200与其区别之处，是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件必能准确地被测量。 精密测量平台Hawk 200可选配各种高规范、高性能的测量平台，提供测量规格可达 400毫米x 300毫米(16英吋x 12英吋)。所有的测量平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以保证优良的精度，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。结合0.5μm分辨力的测量译码器，这保证该系统2μm的可重复性精度。*直观的微处理器数据处理由QC-200多功能微处理器完成，QC-200 最适用于测量普通元器件的外貌特征，例如圆、角、线、弧及距离，并且以操作简便为主而设计，采用了一个直观的界面装置及有实质的视觉显示。X、Y和Z坐标测量是以数字和图解形式表示。输出连接包括USB端口、并联端口和串联端口。选配件和附属配件表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作为标配），配置高倍率物镜，并可装插在四孔位的物镜转换器上，其放大倍率为：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。
* 采用200毫米 x 150毫米的测量平台（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点） | |||||||||||||||
QC-200二维检测微处理器
Quadra-Chek 数字读数器及计量软件是二维几何元器件测量和检测的首要系统。QC-200数字读数器是非接触式测量系统Hawk系列里的初级界面装置，提供一个强劲的组合准许使用者能够沿着测量过程的每一步骤。专利的功能减少反复的测量，并简化复杂的工作步骤。
直观的使用者界面装置
一贯的、直观的界面装置保证操作员的准确性和减少培训时间。
测量戏法®
要进行测量，只需简单地将光标移至测量点并按击。无须操作员介入，QC-200辨别被测形状的类型。专利的测量戏法®功能，使用者无须改变对零部件的视线就能检测多个形状，提高效益、改进准确性和减少使用者的疲劳过度。
在不中断工作流程下，一个能听到的声音从内置扬声器发出，提醒使用者的操作，加快数据输入。
零部件编程
一次性编写一个测量次序，然后能按你所需重复地运行。在相同的位置和次序里，一个又一个地对每个零部件，测量等量的点数。
交叉及构建
通过选择曾测量的形状的记录，获取实质的交叉及构建结果，并以图解式显示。
几何公差
QC-200 特有的图解式说明瞬时地显示关键零部件尺寸的合格 / 不合格测量细节。结果和重要的测量数据被展示在有序的综合LCD液晶显示屏上。
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| 测量结果 | | 交叉及构建 | | 数据云技术 |
内容相关的帮助
QC-200利用图解计算、内容相关的帮助，缩小培训时间和开支，通过Quadra-Chek界面装置规则引导车间人员。
选配件
为工种使用适当的工具。选配的遥控键盘、脚踏开关和打印机帮助操作员更便于地采集精密的测量数据，同时精简作业流程。
语言种类
标准版本QC-200 能适用于英语、法语、德语、意大利语、葡萄牙语、西班牙语、瑞典语、捷克语、波兰语、土耳其语、汉语和日语等多国语言。
Hawk 200工业测量系统 - 技术规范
请联系你所在地的英国工业显微镜有限公司的分机构，让我们了解你所需的详细要求。
| Hawk 200 | |
| 放大倍率选配件 | x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
| 表面照明装置选配件 | 150瓦6-点光环形灯 100瓦同轴光（光线透过物镜） |
| 底部光照明装置 | 100瓦，底部光 |
| 数据处理器选配件 | QC-200* QC-300 QC-5000 |
| 高精密的测量平台选配件 | ||||||||
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| 150毫米 x 150毫米 测量平台选配件 | 200毫米 x 150毫米 测量平台选配件 | |||||||
| 测量范围X Y Z† | 150毫米 150毫米 200 - 250毫米 | 测量范围X Y Z† | 150毫米 150毫米 200 - 250毫米 | |||||
| 平台玻璃负荷 | 15公斤 | 平台玻璃负荷 | 20公斤 | |||||
| 译码器分辨率X Y Z | 0.001毫米 0.001毫米 0.0005毫米 | 译码器分辨率X Y Z | 0.0005毫米 0.0005毫米 0.0005毫米 | |||||
| 平台可重复性X Y Z | 0.002毫米 0.002毫米 0.008毫米 | 平台可重复性X Y Z | 0.002毫米 0.002毫米 0.008毫米 | |||||
| 测量误差 | U952D = 4+(5.5L/1000)μm‡ | 测量误差 | U952D = 2+(4.5L/1000)μm‡ | |||||
| 高性能的测量平台选配件 | ||||||||
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| 300毫米 x 225毫米 测量平台选配件 | 400毫米 x 300毫米 测量平台选配件 | |||||||
| 测量范围X Y Z† | 300毫米 225毫米 40 - 89毫米* | 测量范围X Y Z† | 400毫米 300毫米 40 - 89毫米* | |||||
| 平台玻璃负荷 | 25公斤 | 平台玻璃负荷 | 25公斤 | |||||
| 译码器分辨率X Y Z | 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 | 译码器分辨率X Y Z | 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 | |||||
| 平台可重复性X Y Z | 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 | 平台可重复性X Y Z | 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 | |||||
| 测量误差 | U952D = 15+(6.5L/1000)μm‡ | 测量误差 | U952D = 15+(8.5L/1000)μm‡ | |||||
† 取决于配置。
‡ L = 长度，毫米（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）。
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