类型:检测显微镜 品牌:密维 型号:CM-30型 检测显微镜 仪器放大倍数:7—450X 目镜放大倍数:无 物镜放大倍数:0.7 -4.5 重量:1(g) 适用范围:CM-30 检测电子显微镜在观察物体时能产生正立的三维空间影像。立体感强,成像清晰和宽阔,又具有长工作距离,并是适用范围非常广泛的常规显微镜。检测电子显微镜操作 装箱数:1台/箱
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CM-30型 检测显微镜 |
一、仪器用途:
CM-30检测电子显微镜在观察物体时能产生正立的三维空间影像。立体感强,成像清晰和宽阔,又具有长工作距离,并是适用范围非常广泛的常规显微镜。检测电子显微镜操作方便、直观、检定效率高,适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检定、印刷电路组件中出现的焊接缺陷(印刷错位、塌边等)的检定、单板PC的检定、真空荧光显示屏VFD的检定等等,检测电子显微镜将实物的图像放大后显示在计算机的屏幕上,可以将图片保存,放大,打印。配测量软件可以测量各种数据。
二、技术参数
可以直接在电视机或电脑上观察实物图像。
1.目镜
类型 | 放大倍数 | 视场(mm) |
目镜 | 10X | 18 |
2.物镜变倍范围0.7X-4.5X
3.显微镜为连续变倍,变倍比为6.5:1
4.移动工作距离:200mm
5.台面尺寸:390×160(mm)
6.总放大倍数:7—450X(以21寸电视机,2X倍的大物镜为例)
7.可以直接电视机或电脑上观察实物图像
三、系统简介
电脑型检测显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、普通的电视机完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。从而,我们可以对微观领域的研究从传统的普通的双眼观察到通过显示器上再现,从而提高了工作效率。
四、系统组成
电脑型检测显微镜(CM-30E):1、检测显微镜2、适配镜3、摄像器(CCD)
4、图像采集卡5、计算机
五、参考放大倍数
电脑型检测显微镜(CM-30E):7-320倍(以17寸显示器,2X倍的大物镜为例)
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类型:工具显微镜 品牌:见参数 型号:19JPC 仪器放大倍数:见参数 目镜放大倍数:见参数 物镜放大倍数:见参数 重量:见参数(g) 适用范围:见参数 装箱数:见参数dzsc/17/9228/17922866.jpg19JPC工具显微镜用途: 以直观的数字显示和数据连接计算机进行测量主要适用于:各种成型零件如:样板、样板车刀、样板铣刀、冲模和凸轮形状;对外螺纹、落纹塞规、丝杆、蜗杆的大径、中径、小径、螺距、牙形角测量、齿轮滚刀的导程、齿形和牙形角;电路板、钻模、孔板、孔的位置度,键槽的对称度形位误差测量。技术参数: 1、测量范围与分度值: X、Y坐标测量范围: X—200mm,Y—100mm分度值(数显读数)0.0005mm(2)瞄准显微镜:升降行程:120mm,立臂倾斜范围:左右各15度,分度值:10分照明光阑调节范围:ф3~ф32mm,分度值: 1mm(3)测角目镜:角度测量范围:360度分度值: 1分 (4)轮廓目镜:角度测量范围:±7度;分度值: 10分,园弧分划板,曲率半径R0.1~100mm螺纹分划板,普通螺纹螺距0.25-~6mm,梯形螺纹螺距2~-20mm (5)光学分度台:测量范围:360度;分度值(投影读数)10秒玻璃台面直径ф106mm(6)光学分度头:测量范围: 360度分度值: 1分 (7)光学定位器:...
类型:光学显微镜 品牌:密维 型号:GM-500E系列 硅片检测显微镜 仪器放大倍数:见资料 目镜放大倍数:见资料 物镜放大倍数:见资料 重量:见资料(g) 适用范围:颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘 装箱数:1dzsc/17/9400/17940051.jpg一、用途: 透反射式硅片检测显微镜GM-500E主要用于太阳能电池硅片的观察.它能生产高清晰的图像,立体感较强,成像较清晰和宽阔,又具有长工作距离,并具有较大的视场范围和相应的放大倍数,配有高像素的数码摄像头,可以很清楚地看到硅片的”金字塔”的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析服务.是太阳能电池硅片的普遍专用显微镜。硅片检测显微镜可以观察到肉眼难观测的位错、划痕、崩边等;还可以对硅片的杂质、残留物成分分析.杂质包括:颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等,造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象,使磨片不合格.是太阳能电池硅片生产企业进行质量控制最普通的仪器. 二、技术参数 1.物镜 反射物镜 Pc4X,Pc10X,Pc25X,Pc40X(明场/暗场),Pc63X 透射物镜 Pc4X,Pc10X,Pc25X,Pc40X,Pc100X2.目镜 8X,10X,10X(带0.1mm分划值),12.5X,16X3.光学总放大倍数:40X-2000X 4.测微尺: ...