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品牌:日本思达 型号:DI-9-08 类型:微机控制扭转试验机 测量范围:00(N.m) 显示分辨率:待定(°) 行程:待定(mm) 试件尺寸:待定(mm) 外形尺寸:待定(mm) 适用范围:待定
日本思达牌电批扭力测试仪 型号 DI-9-08 DI-9-08 CD-10 CD-100 测试范围 0.1~800mN.m 0.001~8kgf.cm 0.001~7Lbf.in 0.001~8N.m 0.01~80kgf.cm 0.01~70Lbf.in 0.001~1N.m 0.01~10kgf.cm 0.01~9Lbf.in 0.01~10N.m 0.1~100kgf.cm 0.1~90Lbf.in 误差 ±0.5% ±0.5% 功能 LC:LCD液晶显示,RS:带RS232输出口,PO:电源自动关闭功能,IO:设定自动清零 外型尺寸 155(W)×125(D)×55(H) 配件 测量头OW025/OW10包 装盒/AC充电器各一个 测量头OW020/OW60包 装盒/AC充电器各一个 连接头SJ10/包装 盒/AC充电器各一个 连接头SJ50包装盒 /AC充电器各一个
| 公司介绍 |
| 您还没有上传公司图片! 销售服务项目: 日本“Mitutoyo三丰”投影机,工具显微镜,二次元测定机,各种卡尺,量具,测定仪器。 瑞士“TESA”,“TRIMOS”精密高度规,量具,测定仪器。 日本“AKASHI”各类精密硬度测定机,国产各类精密硬度测定机。 台湾“万濠”精密非接触工具显微镜,精密投影机,光学尺。 台湾“顺滢”按键,开关,荷重元及寿命自动测试仪器,全自动连接器插拔力测试机系列。 台湾“精展”“亚青”各类精密磨床,铣床加工工具。 各种光学仪器,放大镜,实体显微镜等。 各种光学仪器用灯泡,光源批发。 各种精密块规批发,零售等。 各种规格精密花岗石平台,铸铁平台等平面用工具。 各种量具,仪器保养,维修服务。 以上仪器广泛适用于电子、电器、五金、模具、导电硅橡胶、连接器等行业。 |
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型号:00 温度范围:00(℃)产品型号: HC-150 原产地: 台湾 详细说明 高低温恒温试验箱 微电脑触控式高精度控制器信高稳定度之白金测温抵抗体,配合合乎温度测试标准之风速循环系统,达到均匀、准确、稳定的恒温控制 二、型号: HC-150 三﹑技术参数: 1﹑温度范围:0℃~+100℃(+150℃) 2、波动度/均匀度:≤±0.5℃/≤2℃ 3、升降温速率:0.7~1℃/min (3℃/min、5℃/min、10℃/min) 4、电源:220V·50Hz/380V·50Hz 5、工作室尺寸(W×H×D)mm: 500X600X500 6、外型尺寸(W×H×D)mm : 1000X1530X950 四﹑机台配置: 1、冷热交换系统 保温材料:岩棉及硬质PU发泡保温 冷却器:多级膜片式蒸发器 空气循环:单循环、加长轴、不锈钢离心风叶 制冷方式:单元制冷方式/双元(复叠)制冷方式 压缩机:法国“泰康”全封闭制冷压缩机 供水系统:风扇强制循环对流 加湿度稳定度:± 0.2℃ ±2%RH 2、控制系统 安保装置:漏电保护、超温保护、快速保险丝、压缩机过压保护 标准配置:不锈钢可调式隔板两组,真空玻璃透视窗,测试孔,操作室内灯,移动轮,控制批示灯 五、结构特点: 1内、外壳采用SUS304#不锈钢,采用进口SUS油发纹板式宝钢钢板喷涂。 2、控制系统:原装...
型号:0 类型:便携式分光仪产品特点: ★ 操作简便的CM-2600d积分球型便携式分光测色计可应用于各个领域。CM-2600d更是世界上首创内置UV瞬间调节机能的便携式分光测色计,可同时测定SCI及SCE。10nm的间距测定,使仪器有优良的精确度及重复性,而且备有两个不同的测定口径(8mm及3mm)可供切换。 ★ CM-2500d有着跟CM-2600d一样的超高效能,为不需要UV瞬间调节 机能及变更测定口径的用户提供更经济的选择。 产品用途: 适用于塑胶/橡胶、涂料、纺织染、印刷、汽车、造纸等 可连接色彩品质管理软件,CCM(电脑配色系统)。 ------------------------------------- 技术规格: 照明/受光光学系统 d/8 (扩散照明,8°方向受光) SCI/SCE同时测定(无机械切换) (根据DIN 5033第七部份、JIS Z 8722的条件C、ISO 7724/1、CIE No. 15、ASTM E1164) 积分球尺寸 ?52mm 受光组件 双重40个组件硅光电二极管数组 分光方法 平面回折光栅 测定波长范围 360nm至740nm 测定波长间隔 10nm 半值宽度 约10nm 反射率测定范围 0至175%、显示分解能力;0.01% 测定用光源 脉冲氙弧灯3个(CM2500d为2个脉冲氙弧灯) 测定时间 约1.5秒(萤光测定时:约2秒) 最短可测间隔 SCI/SCE测定时间3秒(萤光测定时:约...