类型:工业无损检测X射线机 品牌:恒胜创新 型号:BJI-G Series 测量范围:40.5mm*30.5mm 分辨率:227Lp/cm 1620*1220px 尺寸:210*225*270(mm) 重量:2.7(kg)
恒胜创新BJI-G SeriesX光机检测仪/X射线检测仪
业界首创高精度、超高清X光机检测仪/X射线机
检测透视每厘米内可分辨出高达227线!
X射线检测仪配备《恒胜创新工业无损检测X射线机图像处理系统》可对图像进行丰富的处理及打印透视图像。
BJI-G SeriesX光机检测仪/X射线机对工业电子芯片、电阻元器件的高清透视 输出的图像分辨率达到了1620*1220像素。
一块约40毫米长的电子芯片经过恒胜创新图像采集系统的处理后 可放大近1000倍。
图像灰度等级达到4600级,可完美清晰检测各类电子元器件及芯片内部状态。
参数
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管电压: | 70KV |
管电流: | 0.4mA (高频) |
成像尺寸: | 40.5mm*30.5mm |
分辨率 : | 227p/cm |
传感器: | 1/1.8”CCD |
像元尺寸: | 1620X1220 |
灰度等级: | 4600级 |
图像格式: | bmp;lrd |
外形结构: | 可拆卸式一体机 |
全套组成: | X射线机主机+成像系统+计算机+使用手册+附件 |
重量: | 2.7KG(未含计算机重量) |
功率: | 65W(未含计算机功率) |
供电: | 220V或直流供电 |
介绍
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配备《恒胜创新工业检测X射线机图像处理采集系统》为无损检测透视的数字化提供了完美支持。
本系统可对图像进行 采集、放大、缩小、对比度、明暗、测量、角度、镜像、打印等多种操作。
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BJI-G Series 检测工作区
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BJI-G Series 对电子芯片检测的局部效果
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BJI-G Series 对电子元器件的检测 局部效果
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BJI-G Series 机身细节
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BJI-G Series 工作检测中的外观
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BJI-G Series 使用手册及《恒胜创新工业检测X射线机图像处理采集系统》程序与驱动光盘
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