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ST4000 薄膜测厚仪 镀层测厚仪 覆膜测厚仪

价 格: 面议

类型:薄膜测厚仪 品牌:科美 型号:ST4000 测量范围:10纳米 到 35微米(mm)

测量范围

10纳米35微米

测量分辨率

1nm

测量速度

12 sec/site

平台尺寸

200mm×200mm(8”)

300mm×300mm(12”)

测量样品尺寸

8, 12(可选)

光斑尺寸

40?/20?, 4?(可选)

测量原理

反射计

测量方法

非接触

手动

500×610×640 mm

45Kg

适用温湿度

535°C, 3080% RH

同轴粗微及细焦控制

12V/100W卤素灯

西安飞腾仪器仪表有限公司
公司信息未核实
  • 所属城市:陕西 西安
  • [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
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信息内容:

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