供应CS-1片剂脆碎度测试仪
| 价 格： | 980.00 |
品牌:天津 型号:CS-1 类型:摆锤式冲击试验机 冲击能量:1（J） 冲击速度:1（m/s） 外形尺寸:1（mm） 重量:1（kg） 适用范围:1
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| CS系列脆碎度测试仪，是检查非包衣片脆碎情况及其它物理强度，如压碎强度等的检测仪器。该产品经国家法定质量监督部门测试，其主要技术指标达到或超过国内外同类仪器的先进水平。 主 要 特 点 ·脆碎度测试仪采用单片微型计算机进行控制，愿同旋转速度 及转动圈数控制精度高 ·仪器面板采用PC面膜，轻触按键，数码管显示 ·整机主要元器件及零部件采用进口或国产优质产品 ·结构简洁，美观大方，性能优良，操作简便，工作可靠 技 术 指 标 圆筒内部尺寸 直径 286mm 深度 39mm 滑落高度 156mm 圆筒旋转速度范围 20-90转/分 圆筒旋转速度精度 ±1转/分 圆筒转动圈数范围 10-240转 电源 220V 50Hz 50W | ||||||||||||||
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供应UV-2000紫外可见分光光度计
信息内容：品牌:进口 型号:UV-2000 光源:1 波长范围:200-1000（nm） 焦距:1（mm） 外形尺寸:1（mm） 重量:1（g） 适用范围:1®UV-2000紫外可见分光光度计采用低杂散光，高分辨率的单光束光路结构，仪器具有良好的稳定性，重现性。应用微机处理技术，几个按键就能完成测试。具有自动调校0％T和100％T功能。LED数字显示器可显示透射比、吸光度和浓度等参数，提高了仪器的读数准确性。可外接打印机，打印实验数据。标准RS－232C接口，可通过尤尼柯®用户应用软件（需另购）操作，进行实验测试和数据处理。仪器型号 UV-2000 (出口型)光学系统 单光束，1200条/毫米衍射光栅波长范围 200-1000nm波长精度 ±2.0nm波长重复性 0.5nm光度范围 0-125%T, -0.097-1.999A,0-1999C(0-1999F)光度精度±0.2%T杂散光 ≤0.2%T.@220nm和340nm光谱带宽4nm稳定性 ±0.001A/h在500nm处显示 LED显示，刻度盘；精确至2nm数据输出 RS-232C标准接口打印机接口 并行口外形尺寸 470×400×140(mm)重量 13.5kg
供应数显显微熔点仪
信息内容：品牌:上海 型号:X-4 类型:目视熔点仪 熔点测量范围:320（℃） 功率:1（W） 尺寸:450（mm） 测量重复性:4 电源:220（V\HZ）应用范围 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 产品简介性能指标熔点测量范围：室温至320℃测量重复性：±1℃（在<200℃时） ±2℃（在200～300℃时）光学放大倍数：目镜10X；物境4X应用范围 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 产品简介性能指标熔点测量范围：室温至320℃测量重复性：±1℃（在<200℃时） ±2℃（在200～300℃时）光学放大倍数：目镜10X；物境4X应用范围 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 产品简介性能指标熔点测量范围：室温至320℃测量重复性：±1℃（在<200℃时） ±2℃（在200～300℃时）光学放大倍数：目镜10X；...
