品牌:时光试验仪器 型号:TNS-DW系列 类型:微机控制扭转试验机 测量范围:2%—100%Fs(N.m) 显示分辨率:0.01(°) 行程:650(mm) 试件尺寸:Φ8—Φ32mm(mm) 适用范围:主要用于对金属材料或非金属材料进行扭转试验
详细说明:
主要特点用途:
本机加载由计算机控制日本进口交流伺服控制系统,通过交流伺服电动机,摆线针轮减速机带动主动夹头旋转加载,扭矩和扭角检测采用高精度扭矩传感器和光电编码器,计算机动态显示试验扭角扭矩曲线,加载速率,试验力峰值等。检测方法符合GB10128-88金属室温扭转试验方法的要求。本试验机主要用于对金属材料或非金属材料进行扭转试验,也可以对零部件或构件进行扭转试验,是航空航天,建材行业,交通运输,科研部门,各类大专院校和工矿企业力学实验室用来测定材料扭转性能必备的检测仪器。
主要功能及特点:
加载方式:采用进口交流伺服电机及驱动器,可正反两个方向施加扭矩;
扭矩和扭转角的检测:采用高精度对称扭矩传感器,扭转角的检测采用高精度LEC型光电编码器。
操作:具有手动操作(有正反向手动操作按钮)和计算机操作两种方式;
基于WINDOWS平台下的专用测控软件,采用人机交互方式分析计算被试材料的机械性能指标,试验数据自动处理,动态显示试验曲线,试验结果可存储,打印,也可人工干预分析过程提高分析的准确度。
主要性能指标:
项目名称 | 主要规格 | |
试验扭矩 | 100/200/500/1000Nm | 2000Nm |
扭矩测量范围 | 2%—100%Fs | |
试验扭矩示值相对误差 | ≤±1%(精密级±0.5%) | |
试验扭矩示值重复性相对误差 | 自每档量程的20%起≤1% | |
转角测量范围 | 0.01°—9999.9° | |
转角相对误差 | ≤±1% | |
转角显示最小分辨率 | 0.01° | |
扭角(小角度测量)显示最小分辨率 | 0.002° | |
扭转速度范围 | 0.18°—720°/min,无级调速 | |
试验速度精度 | 优于示值的±1% | |
试验转动方向 | 双向 | |
电源电压 | AC220V | |
两夹头间距离为 | 600mm | 650mm |
夹持试样尺寸 | Φ8—Φ32mm | Φ8—Φ40mm |
采用全数字微机伺服闭环控制 | ||
具有过载保护功能 |
品牌:时光试验仪器 型号:TNS-DW系列 类型:微机控制扭转试验机 测量范围:2%—100%Fs(N.m) 显示分辨率:0.01(°) 行程:650(mm) 试件尺寸:Φ8—Φ32mm(mm) 适用范围:主要用于对金属材料或非金属材料进行扭转试验详细说明:主要特点用途:本机加载由计算机控制日本进口交流伺服控制系统,通过交流伺服电动机,摆线针轮减速机带动主动夹头旋转加载,扭矩和扭角检测采用高精度扭矩传感器和光电编码器,计算机动态显示试验扭角扭矩曲线,加载速率,试验力峰值等。检测方法符合GB10128-88金属室温扭转试验方法的要求。本试验机主要用于对金属材料或非金属材料进行扭转试验,也可以对零部件或构件进行扭转试验,是航空航天,建材行业,交通运输,科研部门,各类大专院校和工矿企业力学实验室用来测定材料扭转性能必备的检测仪器。主要功能及特点: 加载方式:采用进口交流伺服电机及驱动器,可正反两个方向施加扭矩; 扭矩和扭转角的检测:采用高精度对称扭矩传感器,扭转角的检测采用高精度LEC型光电编码器。 操作:具有手动操作(有正反向手动操作按钮)和计算机操作两种方式; 基于WINDOWS平台下的专用测控软件,采用人机交互方式分析计算被试...
类型:工业投影仪 品牌:时光试验仪器 型号:XT-50 投影方式:正投 分辨率:20x 功率:100(w) 投影画画尺寸:18(cm) 重量:18(kg)详细说明:一、概述随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格,所以在整个试验过程中,试样的加工是否合格会直接影响最终的试验结果。如果试样加工质量不合格,那么其试验结果是不可信的,特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳,尤其是在试验的临界值时,会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格,其质量检验是一个重要的控制手段,目前,用光学投影放大检验是切实可行的方法。XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。二、工作原理:本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体,再...