大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH;
主控板兼容设计,只要更换主控板的主控IC,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK方案可互换!。
采用一拖四架构设计,省去外置HUB,每台电脑可同时量产16PCS Flash 芯片,效率倍增;
LGA测试座测试寿命可达20万次以上,是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上;并且探针可更换,维修方便,成本低;
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
高精度的定位槽,保证LGA定位,生产效率高;
整机24小时工作性能稳定可靠,是FLASH经销商及U盘工厂好帮手,
深圳鸿怡电子有限公司。赵生
电话:0755-83587595 13632719880,QQ705231373
产品通用程度高,只要换限位框,即可测试所有引脚相同,外形尺寸不同的BGA FLASH; 配不同的主控板,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK方案可互换! 测试寿命可达20万次以上,是YAMAICHI和OKINS同类BGA SOCKET寿命的10倍以上; 采用手动翻盖式结构,操作方便; 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; 高精度的定位槽,保证BGA定位精确,生产效率高; 探针材料:铍铜(标准); 探针可更换,维修方便,成本低; 绝缘材料:FR-4、PPS等; 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离); 交货快:最快一天内交货。 价格说明,此价格仅限于有球BGA测试座,无球测试座另议。 产品服务: 三个月免费保修(人为损坏除外)。 保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费。 可以免费提供相关的技术支持。 定制服务: 可以定制TF卡1拖4的夹具; 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台; 可定制三合一开卡器; 可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具; 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具(兴邦、安国、迈克微),更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用; 可定制UDP一拖十六测试夹具; 可提供FLASH全端测试解决方案;比如,基于编程器(烧录机)原理的烧录...