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供应EECD61214F测试治具,各类BGA测试座

价 格: 999.00
设备名称:EECD61214F测试治具
型号/规格:BGA测试座
品牌/商标:KZT
原产地:

供应EECD61214F测试治具,各类BGA测试座!

 

产品特点及性能参数:

※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位,生产效率高;
 采用浮板结构,对于BGA IC 有球无球都能测,
 探针材料:铍铜(标准)
 探针可更换,维修方便,成本低。
 绝缘材料:电木、FR4
 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);

凯智通微电子有限公司
公司信息未核实
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生产QFN芯片测试夹具,订制各类IC芯片测试夹具

信息内容:

深圳/苏州凯智通微电子技术有限公司生产销售高性能、低成本的各类BGA/QFN/QFP IC测试治具,我们的产品使用寿命长、测试精度高。我们的产品已取得多项中国国家发明专利和适用新型专利(专利号:20041001529.5;200420015309.X;200520063479.X;200510036732.7;ZL 20061033402.7;ZL 200710073233.4;ZL 200720118476.0)。 主要产品:通信类:手机CPU、电源、帧频等IC的测试;超级终端,GPS IC 测试架电脑类:主板南北桥IC的测试、显卡、网卡、路由器。多媒体类:MP3、MP4、U盘、DVB、机顶盒、蓝牙IC。其它类:打印机、数码相机、指纹识器、电子相册、GPS导航仪等IC的测试。产品优势:1、 专利设计,稳定可靠2、 采用防静电材料作,保证测试可靠性。3、 采用全镀硬金探针,不易氧化,使用寿命长。4、 采用专利浮板结构,对于BGA IC 有球无球都能测试;5、 先进的CNC加工,精密加工的IC定位槽能保证定位准确,对残锡、锡球不均的IC都能精准接触,保证测试精确。操作方便,测试效率高。6、 最小可做到跳距pitch=0.5mm。7、 交货快:最快一天内交货。8、 探针可随意更换,维修方便,成本低。服务:三个月免费保修(人为损坏除外)。保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料...

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