ICT-33C 集成电路测试仪
| 价 格： | 3.00 |
品牌:北京 型号:ICT-33C 用途:可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,
ICT-33C 集成电路测试仪
主要特点
可测1300种器件.
可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,
器件代换查询,内部RAM数据修改,
EPROM、EEPROM器件读出写入.
主要功能
器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
内部RAM数据修改：ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。
EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。
可 测 器 件（1300多种）
CMOS40系列：103种。
CMOSMC140系列：103种。
CMOS45系列：60种。
CMOSMC145系列：60种。
光耦合器系列：133种。
TTL74/54系列：714种。
TTL75/55系列：82种。
数码管系列：
0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。
常用RAM系列：
2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128
EEPROM系列：
2816 2817 2864 28256 28040 29101
EPROM系列：
2716 2732 2764 27128 27256 27512
微机外围电路系列：
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)
常用单片机系列：
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752
其他系列：
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
- 所属城市：广东 广州
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 李玲
- 电话：020-85366166
- 传真：020-85366166
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LW-5991话筒极性测试仪
信息内容：类型:话筒极性测试仪 品牌:龙威 型号:LW-5991LW-5991话筒极性测试仪名称：极性测试仪型号：LW-5991计量单位：台 极性测试仪的主要参数 本仪器适合测试任何型式、尺寸、材质、阻抗的扬声器耳机、动圈受话器的“+”、“-”极性。作全自动快速判别之用，该仪器操作简单，绝无误判，全自动LED或报警指示，仪器采用脉冲式自动快速测定法，在流水线上同时检测扬声器的纯音度指标。技术参数：脉冲宽度0.4ms±0.2ms脉冲幅度>10Vp-p（输出幅度置H）判定速度0.2s测试灵敏度≥25cm-扬声器电源AC 220V±10% 50Hz (110V 可选)外形尺寸230×205×80mm重量约2Kg
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