供应镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪
| 价 格： | 50000.00 | |
| 型号/规格： | XDL | |
| 品牌/商标： | FISCHER |
镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等） 用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 产品型号：XDLM、XUL、XULM、XAN XDVM 技术参数：仪器的特长：广泛应用型可测元素：Ti～U X射線管：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）管电压：45kV 管电流：1mA Be窗滤波器：一次滤波器：A1-自动切换二次滤波器：Co-自动切换检测器：比例计数管 样品观察：CCD摄像机 对焦方式：激光自动对焦 测定软件：世界上最的FP法。数学计算测量方法， 安全机能：测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能 仪器自诊断功能 仪器介绍： 测量数据与Word和Excel链接自动生成报告和数据处理 产品特点： ★ 能够测量无铅焊锡 配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份 ★ 搭载中心搜索软件 通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。 ★ 拥有防冲功能 ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 ★ 拥有自动测量软件以及中心搜索软件 ★ 搭载了薄膜FP法软件
- 所属城市：广东 深圳
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供应jdl膜厚仪，ST膜厚仪，镀层测厚仪
信息内容：jdl膜厚仪，ST膜厚仪，镀层测厚仪，只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度. 可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV(程控) 电脑系统：IBM相容,17”显示器 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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