YAMAICHI测试座，老化测试座，IC测试座，SOCKET
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | YAMAICHI测试座，老化测试座，IC测试座，IC SOCKET | |
| 品牌/商标： | YAMAICHI |
YAMAICHI 老化测试插座型录
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供应PLCC测试座/烧录座/老化测试座
信息内容：PLCC封装 IC测试座/PLCC老化座/PLCC插座 IC Test and Burn-In Socket PLCC(plastic leaded chip carrier)的含义：带引线的塑料芯片载体。表面贴装型封装之一。引脚从封装的四个侧面引出，呈丁字形， 是塑料制品。美国德克萨斯仪器公司首先在64k 位DRAM 和256kDRAM 中采用，现在已经普 及用于逻辑LSI、DLD(或程逻辑器件)等电路。引脚中心距1.27mm，引脚数从18 到84。 J 形引脚不易变形，比QFP 容易操作，但焊接后的外观检查较为困难。 PLCC 与LCC(也称QFN)相似。 PLCC 测试座型号列表 PLCC-IC120 No. of In. Dir. Socket Dim. Part Number Leads IC A B C MFR. IC120-0184-002 18 DB 17.0 21.5 18.0 YAMAICHI IC120-0184-102 18 LB 17.0 21.5 19.3 YAMAICHI IC120-0184-202 18 DB 17.0 21.5 18.0 YAMAICHI IC120-0184-302 18 LB 17.0 21.5 19.3 YAMAICHI IC120-0204-005 20 DB 20.0 20.0 18.0 YAMAICHI IC120-0204-205 20 DB 20.0 20.0 18.0 YAMAICHI IC120-0204-405 20 DB 20.0 20.0 18.0 YAMAICHI IC120-0224-001 22 DB ...
供应美国PLASTRONICS品牌IC SOCKETS测试座/高频测试座
信息内容：美国PLASTRONICS品牌IC SOCKETS测试座/高频测试座 型号 封装 型号 封装 094BG10x127 BGA 40LQ50S16060 QFN 095UG08x127 BGA 40QN40AH15050 QFN(CS) 096BG10x127 BGA 40QN40K15050 QFN 096BG10x227 BGA 40QN40S15050 QFN 096CG12 BGA 40QN40T16060 QFN 096CG12x127 BGA 40QN40TS16060 QFN(CS) 096SG12x127 BGA 40QN50AE16060 QFN(CS) 096UG08B227 BGA 40QN50AH16060 QFN(CS) 096UG08x127 BGA 40QN50D16060 QFN(CS) 097BG10x127 BGA 40QN50H16060 QFN(CS) 1008LG10 LGA 40QN50K16060 QFN 100BG10 BGA 40QN50K17070 QFN(CS) 100BG10x127 BGA 40QN50S16060 QFN 100CG10x127 BGA 40QN50T17070 QFN 100CG12x127 BGA 410BG12X150 BGA 100QN40S1120120 QFN 416BG12 BGA 100QN40T1120120 QFN 416BG12X143 BGA 100UG08 BGA 416SG12 BGA 100UG08x127 BGA 416SG12X143 BGA 100UG08x227 BGA 420BG12 BGA 100UG08x327 BGA 420BG12X143 BGA 100UG08x427 BGA 420LG10X143 LGA 104BG12x127 BGA 420SG12 BGA 104BG15 BGA 420SG...
