品牌:德国 型号:XEPOS 适用范围:XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对欧洲WEEE、RoHS指令。
台式偏振X射线荧光光谱仪-SPECTRO XEPOS |
dzsc/17/4572/17457246.jpg 德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术,把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样,这种先进的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术,并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。 |
SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件,可获得的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保激发,12位样品自动交换器,预先安装好的应用软件包和智能软件模块,使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。
dzsc/17/4572/17457246.jpg SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包,包括:在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析:土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。类型:数字式投影仪 品牌:旺民 型号:CPJ-3020 投影方式:全部 仪器用途: 3000系列全反像数字式测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器。影像与工件完全同向,正立直观。它广泛用于机械、仪表、电子、电线、轻工等行业;院校、研究所以及计量检定部门。本仪器能高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状,如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成型铣刀等。 仪器特点: 仪器光学系统品质优良,物镜成像清晰,放大倍率准确。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%;坐标测量示值误差可达(3+L/200)μm,L为被测长度(单位:mm);仪器配有专用微型打印机和脚踏开关,数据输出和采样十分方便。工件影像可以是全正像也可为倒像。 此投影仪Z轴升降采用导轨的传送方法,提高了其机身的稳定性及耐久性,投影仪成像清晰、放大倍率准确。 仪器型号反像型30153020工作台金属台面尺寸(mm)340×152450×280玻璃台面尺寸(mm)196×96306×196X座标行程(mm)150200Y座标行程(mm)50100Z座标行程(调焦用)(mm)90(调焦)90(调焦)仪器测量精度4+L/2004+L/200X、Y座标数显解析度:0.001投影屏投影屏尺寸(mm):Φ312,使用范围> Φ30...