供应精密老化试验箱.老化试验机.恒温
| 价 格： | 面议 |
品牌:科强 型号:KQA-452 工作室尺寸:40*45*40（mm） 温度范围:300（℃） 温度波动度:1（℃） 温度均匀度:1（%） 控温方式:PID微电脑控温 适用范围:老化.烘干.定型
1.内部尺寸:W40×H45×D40cm
2. 控制器位于机台下方，单门.
3. 内材质为SUS 镜面不锈钢.
4.外材质为SECC钢板， 精粉体烤漆处理，电脑白颜色，美观大方，质感.
5.内部带不锈钢转盘,进口驱动调速马达,转盘转速:11-12转/分.
6.保温材质为进口高密度玻璃岩棉，隔热性好，限度地保证温度保温性，防密之迫紧材质为耐高温硅胶可长时间承受300度的高温
7.温度控制为PID微电脑自动演算PV/SV同时显示
8.感温入力CA（K）ＴＹＰＥ 输出为１２Ｖ
9.电流控制器为ＳＳＲ无接点Ｒelay，保持电流的高稳定性.
10.发热材质为蜂窝式不锈钢发热管，无污染且使用寿命长
11.温度范围ＲＴ～300℃恒温可调.
12.精度：控制精度±１.0℃,温度均匀度:1.0%
13. 强制水平送风循环.
14.马达为台湾进口长轴耐高温低噪声型，功率为1/2HP50Hz
15.电源：电压 220Ｖ ５０Ｈz，加热功率:3.0kw
16.超高温保护, 无熔丝开关， 瓷质保险丝，马达过载保护.
17.计时器 99.9秒~999小时（可H.M.S切换和小数点的位置设定）
18.我司可按客户的要求订做非标热风循环精密烤箱(600度).高温炉(1200度).
- 所属城市：广东 东莞
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 瞿艳纯
- 电话：0769-88666555
- 传真：0769-88666555
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高压加速老化试验箱
信息内容：品牌:科强 型号:KQ-PCT-30 类型:高温加速老化试验箱用途: 广泛应用于医疗器件消毒，工业上线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测.一、型 号 :KQ-PCT – 35.二、规格：内箱尺寸: 300×500 mm(φ×D)圆形试验箱.外箱尺寸: 700×1450×650 mm(W×H×D).内箱材质 : SUS 304#不锈钢板材质.外箱材质：钢板烤漆。三、性能：操作环境需在室温30℃以下且通风良好之条件下进行.1.温度范围 : 110℃ / 132℃. (饱和蒸气温度).2.湿度范围 : 100%RH . (饱和蒸气湿度).3.压力范围 : 0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).4.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.5.温度分布:(+/-)2.0℃.6.升温时间:RT ~ 132℃约35分钟内. （控制点温度）7.加压时间:0.0Kg/cm2~ 2.0Kg/cm2约40分钟内（控制点压力）。四、控制系统：1.微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器.2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL…3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.4.控制方式:微电脑PID控制.5.控制精度:(+/-)0.5℃.6.解析精度:0.1℃.五、循环方式：饱和水蒸...
高压加速老化寿命试验机
信息内容：品牌:科强 型号:PCT-30 类型:高压加速老化试验箱 温度范围:110/132（℃） 功率:2.2KW（W） 工作室尺寸:300*500（mm） 适用范围:医疗器件消毒，工业上线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测 用途: 广泛应用于医疗器件消毒，工业上线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测.一、型 号 :KQ-PCT – 30.二、规格：内箱尺寸: 300×500 mm(φ×D)圆形试验箱.外箱尺寸: 700×1450×650 mm(W×H×D).内箱材质 : SUS 304#不锈钢板材质.外箱材质：钢板烤漆。三、性能：操作环境需在室温30℃以下且通风良好之条件下进行.1.温度范围 : 110℃ / 132℃. (饱和蒸气温度).2.湿度范围 : 100%RH . (饱和蒸气湿度).3.压力范围 : 0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).4.时间范围: 0 ~ 999 小时可调.5.温度分布:(+/-)2.0℃.6.升温时间:RT ~ 132℃约35分钟内. （控制点温度）7.加压时间:0.0Kg/cm2~ 2.0Kg/cm2约40分钟内（控制点压力）。四、控制系统：1.微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器.2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL&hell...
