金属涂镀层厚度测量仪，X射线荧光镀层测厚仪
| 价 格： | 8000.00 |
类型:薄膜测厚仪 品牌:zg 型号:m 测量范围:0.0001（mm）
美国MATRIX手提式 X-射线镀层测厚仪
款手提式 X-射线镀层测厚仪
这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。
具备“批量测试”模式，即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度
可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。
单、双、三层镀层的厚度测量
无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
软件：
基础参数分析（非标准和标准）：点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量法功能允许对许多小部分同时进行非接触测量。
快速ID合金分析： 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号； 库存编辑和合金识别能力；
基础参数分析(FP): 这个组合包括21种元素： 钛，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，锆，铌，钼，铪，钽，铼，铅，银，锡，铋，锑等。（注意：总共可以安装25元素；还有附属的元素包括：镉，金，铂，钯，硒。）
技术数据：
电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。
X射线发生器： 银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50微安
测量尺寸： 接触样品表面测量时，7.75 mm
X射线探测管： Si-PIN高分辨率探测系统
尺 寸： 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm
重 量： 基体配置1.2kg；1.6kg带电池
参数调整：不锈钢316作为参考标准
配置说明：
微型银或钨X-射线管，5个准直器。
检测器：半导体高分辩率的检测器。
电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。
操作温度：-10 ~50摄氏度
FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析
多年来，我们一直致力于为电镀、PCB、SMT、半导体等电子行业生产厂商及科研机构提供高性能的检测仪器和优质的技术服务。精诚仪器希望与广大客户建立更紧密的合作，提供更完善的服务
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供I-PEX-20454-40P液晶屏线LED屏线
信息内容：品牌:笔记本屏线I-PEX-20454液晶屏线 型号:I-PEX-20454-40P液晶屏线 应用范围:显示屏 种类:FFC/FPC 接口类型:PCI 形状:条形 制作工艺:冷压 接触件材质:FFC软排线 线长:250（mm）dzsc/17/5034/17503429.jpgdzsc/17/5034/17503429.jpg本公司大量生产各种LED屏线，可按照客户开发方案！有需求请联系！
ROHS检测仪 X荧光光谱仪器 化学元素分析仪 金属检测仪
信息内容：类型:实验仪器 品牌:1 型号:1 新旧程度:9成新 设备所在地:1 设备生产产地:1 产品数量:1仪器介绍 更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 3000D正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，同时EDX 3000D还采用了天瑞仪器专利产品的信噪比增强器进一步提升了检测结果的准确性。性能特点半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷自动滤光片选择多种准直器自动自由切换三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序样品腔自动开关软件定位样品平台，最小位移 0.01 mm自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品特别开发测量软件，操作界面十分友好内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击精准的自动移动平台，更精确方便地调节样品位置采用天瑞仪器专利产品--信噪比增强器 SNE，大幅提高光谱仪测量的确定性和精确度技术指标型号：EDX 3000D元素分析范围从硫(S)到铀(U)元素含量分析范围为1 PPm到99.99%RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达1PPM；测量时间：60-200秒能量分辨率为155&pl...
