供应EDX-720 X射线荧光光谱仪
| 价 格： | 面议 |
品牌:无 型号:EDX-720 光源:见详细说明 波长范围:见详细说明（nm） 焦距:见详细说明（mm） 外形尺寸:见详细说明（mm） 重量:见详细说明（g） 适用范围:见详细说明
EDX-720主要特点：
1. 配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。
2. 配置高计数率电路，增加检测器的计数量。
3. 增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。
4. 增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。
【详细说明】
技术参数
1.分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)；6C~92U(EDX-800HS)
2.样品型状：300mmФ×150mmH
3.X射线滤镜：5种自动交换
4.软件：
＊ 定性分析－测定/解析软件。
＊定量分析－工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法
主要特点
固体；粉末；液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！
EDX-720主要特点及优点：
1。配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。
2。配置高计数率电路，增加检测器的计数量。
3。增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。
4。增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线
- 所属城市：浙江 杭州
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- 联系人： 瞿雪青
- 电话：571-88827676
- 传真：571-88827676
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供应HSP-2000光谱分析仪
信息内容：品牌:虹谱光电 型号:HSP-2000 波长范围:380-780（nm） 适用范围:紫外、可见、近红外详细说明:型号:HSP-2000配电脑直接测量并显示光源及发光材料的相对光谱功率分布、色品坐标、显色指数、色容差、峰值波长、光通量、光效率等光电参数； 快速负高压自动调节，不仅使测量时间更快，更大大降低了仪器的磨损；环境温度、测光球内温度同步监测，使测量条件更加直观，数据更可靠； 测试报告中色品图与色容差图可以自由转换，解决了不同种类光源因标准要求不同而误导可户的合格正确判断；光谱功率分布图彩色或单色显示及打印，中英文测试软件及测试报告；RS-232-C标准串口，方便与各种PC（电脑）连接；软件界面直接控制THP-500变频电源的频率、电压调节及输出，用户无需再操作仪器，可全部由电脑鼠标完成；软件可直接到处EXCEL文件，用户无须再手工抄录。技术特性波长范围： 380-780nm.（特殊：200nm~780nm）.波长准确度： ±0.2nm.波长重复性：±0.1nm.色品坐标准确度：±0.0003(标准A光源下).光谱采样间隔： 5nm( 特殊可提供：1nm).光度线性：0.3%.光度准确度：1级相关色温测量范围：1500k~25000k.相关色温准确度：±0.3%（标准A光源下）.显色指数测...
供应XJ4810A晶体管特性图示仪
信息内容：类型:特性图示仪 品牌:正东 型号:XJ4810A 电压范围:见详细说明（V） 扫频范围:见详细说明（MHz） 尺寸:见详细说明（cm） 电流范围:见详细说明（V） 适用范围:见详细说明XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。 集电极扫描信号 输出电压范围及电流容量 0～5V 10A（XJ4810A） 0～10V 5A 0～50V 1A 0～100V 0.5A 0～500V 0.1A 基极阶梯信号 阶梯电流 0.2μA/级～50mA/级，分17档(XJ4810) 0.2μA/级～100mA/级，分18档(XJ4810A) 阶梯电压 0.05V级～1V/级，分5档(XJ4810) 0.1V级～2V/级，分5档(XJ4810A) Y轴偏转系数 集电极电流 10μA/div～0.5A/div，分15档(XJ4810) 10μA/div～1A/div，分16档(XJ4810A) 二极管电流 0.2μA/div～5μA/div，分5档 倍率 ×0.1 X轴偏转系数 集电极电压 0.05V/div～50V/div，分10档 0.05V/div～1V/div，分5...
