类型:镀层测厚仪 品牌:时代 型号:TT260 测量范围:0-1.25(mm) 显示方式:数显 电源电压:9(V) 外形尺寸:200(mm)
产品说明: | 概述 |
品牌:日本岛津 型号:FACTORY LAB MXF-2400 光源:普通 波长范围:100(nm) 焦距:12(mm) 外形尺寸:1000(mm) 重量:100(g) 适用范围:材料检测适用于工艺管理,可在约1分钟的时间里同时分析36种元素。采用4kw薄窗X射线管。采用封气型检测器,直至Na的检测也实现了长期稳定性,可以微量区域开始,在宽广的范围内进行出色的分析。→分析元素 4Be~92U→固定分析器 弯曲晶体聚焦分光,全元素真空型→扫描型分光器 平板晶体平行束方式→软件 定量?定性分析、工作曲线、作表、传输dzsc/17/4180/17418094.jpg
品牌:国产 型号:ES-CMM1086 类型:全自动三坐标测量机 定位精度:1000(mm) 外形尺寸:1000*800*600(mm) 适用范围:1000*800*600三轴空气轴承及高精密光杆使机机台维持高精度及高速度英国Renishaw雷尼绍测量控制系统/测头组高精密度花岗石平台及活动桥式设计使机台性能更稳定美国DIMS 全自动的测量软件提供快捷,精确,简便的量测功能智慧型自动判别量测元素<如:点.线.圆.圆锥.圆柱> 全中文Windows窗口操作软件,输出DXF,IGES,CAD档案格式 ES_CMM测量系统:控制系统及探针测量系统驱动系统:直流伺服电机控制系统:RENISHAW UCC系列操作方式:计算机自动控制+微电控制软件:美国DIMS控制软件探测系统:RENISHAW MH20i (简化配置) RENISHAW PH10T+TP20(标准配置) RENISHAW PH10M+TP20(可加激光扫描测头,选配) 空间测量精度(E)(3+L/300)um ES-CMM(手动)探针测量系统:控制软件:DIMS(美国)操作方式:手动探测系统:RENISHAW(英国)MH20i+TP20 空间探测精度:(E):(3.5+L/300)um 应用范围:主要应用于航空、汽车、摩托车、军工、电子、模具等行业。 型号ES-CMM1086ES-CMM1218ES-CMM1521X轴800mm1000mm1200mmY轴1000mm1200mm1500m...