供应 EPK 涂镀层 测厚仪
| 价 格： | 0.10 |
类型:涂层测厚仪 品牌:EPK 型号:MiniTest1100/2100/3100/4100 测量范围:0-20（mm） 显示方式:数显 电源电压:6（V） 外形尺寸:根据规格（mm）
德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100 涂镀层测厚仪具体介绍
德国EPK公司一直致力于开发和生产各种用于表面处理行业的精密测量仪器。作为无损涂层厚度测量领域的先驱，EPK公司与各标准化组织和研究院一道，成功地推进了涂层厚度测量在世界范围内的标准化进程。大量的专利技术与成果表明EPK公司是该生产领域的佼佼者。
德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100 涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自
具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。
德国EPK MiniTest1100/2100/3100/4100 涂镀层测厚仪技术指标：
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可选探头参数： 所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
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供应Lambda 750紫外分光光度计
信息内容：品牌:PerkinElmer 型号:Lambda 750紫外分光光度计技术参数双光束、双单色器、比例记录并由计算机控制的紫外/可见（/近红外）分光光度计。整个光学系统全部采用涂有SiO2保护层的反射光学元件，全息刻线光栅刻线密度（紫外/可见为1440条/mm，近红外360条/mm）；采用的四区分段的扇形信号收集的斩波器，确保了每次得到最准确样品和参比的信号（斩波器运转期间，样品和参比的信号分别单独被各自的黑区信号所校正，波长精度）。仪器的标准波长范围宽：Lambda 750为190～3300nm；UV WinLab软件功能强大，可提供专家模式(Expert mode)运行仪器，为用户提供的仪器参数（实验条件）还可提供特殊应用的数学运算、色度、建筑玻璃、防护玻璃、滤光片及数据库等的软件（光谱软件工具包ASSP），可提供的附件最全。主要特点来自美国PerkinElmer公司的工业标准。高性能的系统，可采集超高质量的数据，采样的方便性；科学家设计，面向科学家。您所需要的每件事情，我们都想到了。仪器介绍Lambda 750紫外/可见/近红外分光光度计是珀金埃尔默公司集多年光学仪器制造的先进经验，采用的材料与工艺，为二十一世纪制造的型号的仪器。所有的系统配置，提供了极为的光学性能，堪称达到光电艺术的境...
尼通NITON XLt 797Z ROHS分析仪
信息内容：品牌:尼通NITON 型号:XLt 797Z 手持式多元素分析仪 RoHS-compliance 类型:多元素分析仪器 测试范围:塑料模式、合金模式 适用范围:塑料、合金全球的便携式XRF技术 XLt-797Z分析仪通过使用超微型的X射线管激发源为用户带来速度和效率的革命。该款产品专门设计用来检测电子电气产品的塑料和金属中的镉(Cd)、铅(Pb)以及其他有害元素成分。• 塑料模式(Plastic mode)10多种标准元素： Ti, Cr, Fe, Cu, Zn, Se, Br, Cd, Sn, Hg, Pb, Ag, As, Au, Ni, V, Sb。• 合金模式(Alloy mode)适用于合金、焊料以及金属制品等 20多种标准元素 • G系列： Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Pb, Bi • K系列： Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Hf, Ta, Pt, Au, Pb, Bi SPECIFICATIONSX射线检测器高性能Si-PIN检测器, Peltier制冷器分辨率: 优于220eVLimits : 2 sigma (95% confidence-intervals)测量结果单位塑料模式: PPM合金模式: 质量的%重量 /尺寸1.4 kg (3.0 lbs).248 x 273 x 95 mm (9.75 x 10.5 x 3.75 in)激发源小型X射线管及供电器(40kV/50&m...
