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供应非破坏式光学薄膜分析系统ST6000

价 格: 面议

类型:薄膜测厚仪 品牌:科美 型号:ST6000 测量范围:100?~ 35?(mm)

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ST6000
·工业规格
·适合测量液晶显示器
·适合TFT-LCD和STN-LCD使用



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活动范围 370mm x 470 mm~
测量范围 100?~ 35?
光斑尺寸 40?/20?, 4?(option)
测量速度 1~2 sec./site (fitting time)
应用领域

聚合体: PVA, PET, PP, PR

电解质:SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4...

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

显示 : PR, ITO, SiO2, TiO2, ZrO2, SixNx

选择 Contact Angle Measurement
RS Measurement Using a 4-point Probe
Transmittance Measurement
特征

通讯接口模块传达方式

自动机械活动控制

电荷耦合器件照相机

自动调焦

模式识别

上海思龙科学仪器有限公司
公司信息未核实
  • 所属城市:上海 上海市
  • [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
  • 联系人: 屠争
  • 电话:021-35100022
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