数码合成函数信号产生器 SFG-2007
| 价 格： | 120.00 |
类型:函数信号发生器 品牌:台灣固緯GWINSTEK 型号:SFG-2007 频率:100mHz（MHz） 外形尺寸:107(W)×266(H)×293(D)（mm） 重量:3.1（kg）
7MHz 数码合成函数信号产生器
7MHz 数码合成函数信号产生器
商品型号: SFG-2007数码合成函数信号产生器
型号 : SFG-2007
特点
直接数码合成技术及FPGA芯片设计
频率范围:0.1Hz~7MHz
频率分辨率:100mHz
频率准确度及飘移度:+/-20ppm
低失真正弦波:-55dBc,0.1Hz~200kHz
输出波形:正弦波、方波、三角波
具TTL及CMOS OUT
前面板可设定十组储存及呼叫操作记忆
商品规格:
- SFG-2007 规格
- 规格
- 主输出
- 频率范围(正弦波 ,方波) 0.1Hz~7MHz
- 频率范围(三角波 ) 0.1Hz~1MHz
- 分辨率 0.1Hz
- 频率稳定度 ± 20 ppm
- 频率准确度 ± 20 ppm
- 长时间准确度 ± 5 ppm / year
- 波形种类 正弦波, 方波, 三角波
- 输出振幅 10Vpp(含 50Ω负载)
- 振幅对频率平坦度(相对于1kHz正弦波) ＜± 0.3dB,0.1Hz～1MHz; ＜± 0.5dB,1MHz～4MHz; ＜± 2dB, 4MHz～10MHz
- 输出阻抗 50Ω±10％
- 输出衰减器 -20dB±1dB×2
- 直流抵补范围 ＜-5V～＞+5V(含 50Ω负载)
- 周期比调整范围 20% to 80% below 1MHz (方波才有)
- 周期比分辨率 1%
- 频率显示器 9位数LED 显示
- 正弦波
- 谐波失真 -55dBc,0.1Hz～200kHz; -40dBc,0.2MHz～4MHz; -30dBc,4MHz～10MHz
- (此为输出准位值到十分之一值之规格且TTL/CMOS OFF)
- 三角波
- 线性度 ≧98％,0.1Hz～100kHz;≧95％,100kHz～1MHz
- 方波
- 对称性 ± 1% of period +4ns to 0.1Hz～100kHz
- 上升及下降时间 : ≦25ns在输出时 (含 50Ω负载)
- CMOS 输出
- 输出准位
- 4Vpp±1Vpp～14.5Vpp±0.5Vpp 可调整 ; 上升及下降时间 : ≦120ns
- TTL 输出
- 输出准位 ≧3Vpp ; 输出推力 : 20 TTL load ; 上升及下降时间 : ≦25ns
- 记忆储存
- 储存及呼叫功能 10 组设定记忆
- 输入电源 AC115V, 230V±15%, 50/60Hz
- 附件
- 操作手册×1
- 电源线×1
- GTL-101×1
- 外观尺寸 107(W)×266(H)×293(D) m/m
- Approx. 3.1kg
认证:
- CE
| 通讯地址: | 11056 台北市信义区和平东路 3段 225 号 4楼-1 |
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200 KHz 精密LCR 测试仪 LCR-200
信息内容：类型:高速LCR测量仪 品牌:TECPEL-台灣泰菱電子儀器 型号:LCR-200 测量范围:Z, Ls, Lp, Cs, Cp, DCR, ESR, D, Q 测量准确度:基準 0.1%（%） 测量频率:200K（Hz） 测量速度:Auto range200KHz 精密LCR 测试仪 ( LCR 200)LCR 200 特性：1.测试频率： 100 Hz, 120Hz, 1KHz, 10KHz, 100KHz, 200KHz2.测试条件: 1V RMS, 250mVrms, 50mVrms, 1V dc (仅限DCR )3.DMM 三用电表的功能 (AC T.RMS真均方根值)4.Z, Ls, Lp, Cs, Cp, DCR, ESR, D. Q 测试模式5.大型 LCD 显示幕可同时显示测试条件及测试结果6.开路与短路校正测试7.遥控binning 功能8.自动档位与档位锁定功能9.RS-232C 介面商品规格:测试条件:测试频率 Frequency : 100Hz / 120 Hz / 1KHz / 10KHz / 100KHz / 200KHz 测试 Level : : 1Vrms / 250m Vrms / 50m Vrms / 1Vdc (DCR only) 测试条件 Measurement Parameters : : Z, Ls, Lp, Cs, Cp, DCR, ESR, D, Q and θ 基本精密度Basic Accuracy : : 0.1 % Dual Liquid Crystal Display with LED backlit Auto Range or Range Hold selection Open / Short Calibration RS232C Interface主要测试功能显示:Primary Parameters Display :Z : AC Imped...
高精密 LCR 测试仪 LCR-817
信息内容：类型:高速LCR测量仪 品牌:台灣固緯 GWINSTEK 型号:LCR-817 测量范围:12Hz to 10kHz (489 点) for LCR-817/827 测量准确度:0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)（%） 测量频率:12~ 10 k（Hz） 测量速度:68mS (LCR-816/817/819)高精密 LCR 测试仪 ( LCR-816/817/ 819 LCR-826/827/829)LCR-816/817/819 LCR-826/827/8291. 测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点2. 0.05% 高量测准确度 (LCR-817/819)3. 0.1% 高量测准确度 (LCR-816/826/827/829)4. 100 组设定条件记忆储存、呼出功能5. R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式6. 值、差异值(△ )、差异百分比(△%)显示7. 240 x 128 大型 LCD 显示幕8. 选别机接口 (LCR-826/827/829)9. 测试条件及测试结果同时显示在萤幕上TECPEL泰菱有限公司Tel : (02)2737-5866FAX : (02)2737-3343E-MAIL: sales@tecpel.comWeb-site: http://www.tecpel.com 商品规格:LCR-816/817/819 LCR-826/827/829测试频率12Hz to 100kHz (503 点) for LCR-819/82912Hz to 10kHz (489 点) for LCR-817/827100Hz to 2kHz (245 点) for LCR-816/826准确度0.05% (LCR-817/819)0.1%(LCR-816/826/827/829)测试速度34mS (LCR-826/827/829)68mS (LCR-816/817/819)测试电压5mV ~ 1.2...
