产品型号:CY-100K 产品规格:-40~150 外形尺寸:1000×1430×850(mm) 重量:300kg(Kg) 产品用途:可靠度及溫濕度環境測試.
提供產業界零件、主要配件、半成品,如:電子零件、汽車零件、筆記本電腦等…可靠度及溫濕度環境測試.除了具备标准型之优越设计外,采用高稳定之白金测温抵抗体,配合合乎温、湿度测试之风速循环系统,可模拟高湿、高温低湿、低温高湿,低温低湿等不同环境的测试条件,更搭配容易操作及学习高准确之编程系统,提供测试性能。 視野寬廣的觀測窗:長方形觀測窗,採用螢光燈保持箱內明亮,且利用發熱體內嵌式玻璃,無須雨刷除霧,隨時保持清晰的觀測試驗箱內的狀況。 加濕系統管路與控制電路分離:加濕系統管路與電源、控制器、電路板分離,可避免因管路漏水而影響電路,提高安全性。 測試用電源接線端及時間信號端子均勻藏於箱體左側下部。(額定電流2A) 簡便自動供水裝置:供水箱置於試驗箱體後側的下部,便於補充供水。 附:可經由RS-485介面與電腦連線,使用者可以在電腦螢幕上設定程式、收集測試資料與記錄、呼叫程式執行、遙控機器開關等功能。 | |
产品名称 | 可程式恒温恒湿试验机 |
产品型号 | CY- 100K |
温度范围(℃) | -40~150 |
湿度范围(%RH) | 20~98 |
内部尺寸(W×H×D)mm | 400×500×400 |
外部尺寸(W×H×D)mm | 1000×1430×850 |
容积(L) | 100 |
冷冻系统 | 一元式或二元式全密封闭气冷式冷冻系统 |
循环系统 | 风扇强制循环对流 |
加热系统 | 不锈钢散热式加热器 |
除湿系统 | 冷冻激潜热除湿方式 |
加湿系统 | 表面蒸发式,不锈钢加热加湿器,并附加湿器缺水断电警示装置 |
供水系统 | 全自动给水控制,回收循环过滤再利用,并附缺水警示装置 |
温湿度控制方式 | 平衡调温调湿方式(BTHC) |
温湿度稳定度 | ±0.2℃ ±2%RH |
内外部材质 | SUS304#不锈钢制 |
保温材质 | 岩棉及硬质PU发泡保温 |
安全装置 | 漏电及过负载保护器,压缩机过负载保护器,超温、超湿、断电保护,加湿器过热保护,温度极限保护装置。 |
标准配件 | 不锈钢可调式隔板两组,真空钢化玻璃透视窗,测试孔,操作室内灯,移动轮,控制指示灯。 |
选购配件 | 记录仪,内置玻璃门 |
电源 | AC220V,1PH,50/60HZ或AC380V,3PH,50/60HZ |
品牌:AT 型号:AT4320 测量范围:-270℃~1300℃(℃) 外形尺寸:分度号:J/K/T/N/E/PT100/Cu50(mm) 装箱数:分辨率:0.1℃ 准确度:0.1%dzsc/17/2904/17290419.jpgdzsc/17/2904/17290419.jpgdzsc/17/2904/17290419.jpgAT4320是微处理器控制的多路温度测试仪,可同时对20路温度进行采集、报警、和通讯传输。兼容多种温度传感器,响应快,数据稳定,同时具有断偶检测功能。全新研发的电路使仪器具有广泛的适应性,支持K/N/E/J/T型热电偶,同时增加了对热电阻的测试。测试范围从-200℃~1300℃。安柏科技定制的LCD显示屏。用户可使用前部面板上的键盘,自由设置数据和配置路数。仪器支持RS232C全双工通讯,通过PC软件可轻松实现数据采集、分析和打印。同时还可选配USB接口使通讯更简单。2009年新款AT4320支持移动存储器,U盘采集功能,数据可直接导入Excel中进行数据分析。AT4320采用坚固抗振的外壳,可在苛刻的环境下工作。全隔离的数字和模拟信号,可进行带电测试(隔离电压800V AC),安全可靠。内部Flash存储器保存仪器设置参数,用于下次开机使用,恢复扫描。2009全新升级,支持U盘存储技术规格● 分度号:J/K/T/N/E/PT100/Cu50● 测试范围:-270℃~1300℃● 分辨率:...
类型:半导体图示仪 品牌:扬中科泰 型号:CA4810A 电压范围:0-500V(V) 扫频范围:0.05V/ 级 -2V/ 级(MHz) 尺寸:510*251*341(cm) 电流范围:0.1A-10A(V) 适用范围:半导体产品CA4810A半导体管图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线的仪器,并可测量低频静态参数。是从事半导体管研究制造及无线电领域工作者的一种必不可少的仪器。 晶体管特性图示仪性能 集电极功耗电源电压范围:0-500V电流范围:0.1A-10A功耗电阻:0-500KΩ分11档阶梯电压范围0.05V/级-2V/级具有双蔟显示功能特有场效应管配对和测试功能5KV高压测试台外形尺寸:510*251*341测量半导体器件的各种特性曲线Measure various transistors characteristic curves.测量半导体器件的静态参数Measure various transistors static parameters.能在不损坏器件的情况下,测量半导体器件的极限参数Measure various transistors limit parameters without damaging the device.晶体管双簇显示Dual curves displaying function. 项目Item CA4810A 集电极电流范围Collector current (IC) 20μA/div-1A/div分15档,误差不超...