韩国进口 薄膜厚度测量仪 ST2000
| 价 格： | 0.08 |
品牌:K-MAC 型号:ST2000 外形尺寸:190 x 265 x 316 mm（mm） 重量:12Kg（Kg） 产品用途:测量
| Stage Size | 150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance) |
| Measurement Range | 200?~ 35?(Depends on Film Type) |
| Spot size | 20? Typically |
| Measurement Speed | 1~2 sec./site |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : dzsc/17/2858/17285872.jpg Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
| Option | Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) |
| Head | Trinocular Head |
| Nosepiecs | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| Type of Illumination | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
本产品适用于半导体领域内，测量薄膜厚度的光学分析仪器。我公司的ST产品的测量时间非常短暂，测量方法是属于非接触非破坏方法，使用显微镜可以测量很小区域内的再现性和准确性，现在，我们公司的薄膜测厚仪是远远于使用其它方法的其它产品。 【】厚度测量领域内的分解能力属于世界最初微小领域测量 【】可以专用于测量微小领域的厚度分布 【】可以测量Wafer上的多层薄膜厚度与光学常数-折射率与吸收率 【】可以实时的测量厚度变化量与具有角度显示，打印，保存功能 【】可以快速的在1秒之内接受data并且修复data
- 所属城市：江苏 南京
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- 联系人： 李述勇
- 电话：25-84521963
- 传真：25-84521963
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韩国进口 薄膜厚度测量仪 ST5030
信息内容：品牌:K-MAC 型号:ST5030 外形尺寸:500 x 750 x 650 mm（mm） 重量:80Kg（Kg） 产品用途:测量Stage Size300mm x 300mm Measurement Range100?~ 35?(Depends on Film Type) Spot size40?/20?,4?(option) Measurement Speed1~2 sec./site (fitting time) Application AreasAll Capability of ST2000 & More Precision MeasurementIntended for Large Size Wafer Measure OptionReference sample(K-MAC or KRISS or NIST)Anti-vibration table Revolving nosepieceQuintuple Revolving Nosepiecs FocusCoaxial Coarse and Fine Focus Controls Incident illumination12v 100W Halogen Lamp 本产品适用于半导体领域内，测量薄膜厚度的光学分析仪器。我公司的ST产品的测量时间非常短暂，测量方法是属于非接触非破坏方法，使用显微镜可以测量很小区域内的再现性和准确性，现在，我们公司的薄膜测厚仪是远远于使用其它方法的其它产品。【】厚度测量领域内的分解能力属于世界最初微小领域测量【】可以专用于测量微小领域的厚度分布【】可以测量Wafer上的多层薄膜厚度与光学常数-折射率与吸收率【】可以实时的测量厚度变化量与具有角度显示，打印，保存功能【】可以快速的在1秒...
