供应ICT-33C集成电路测试仪
| 价 格： | 面议 |
*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
*器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。
*器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
*器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
*内部RAM数据修改：ICT-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
*EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。*EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。
可 测 器 件（1300多种）
1.CMOS40系列：103种。
2.CMOSMC140系列：103种。
3.CMOS45系列：60种。
4.CMOSMC145系列：60种。
5.光耦合器系列：133种。
6.TTL74/54系列：714种。
7.TTL75/55系列：82种。
8.数码管系列： 0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]； 0.7吋共阳[005]；共阴[006]。
9.常用RAM系列： 2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128
10.EEPROM系列： 2816 2817 2864 28256 28040 29101
11.EPROM系列： 2716 2732 2764 27128 27256 27512
12.微机外围电路系列： 8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)
13.常用单片机系列： 8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752
14.其他系列： 2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC14132003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163 (40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
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供应GT2200A模拟电路多参数测试仪
信息内容：GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量 。 功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。 产品特点： 1．根据IC型号自动切换测试，无需人工转接线更换测试盒。 2．具有自校准功能，测试参数基准稳定。 3．测试参数值读取快洁、直观。 4．测试操作简单。 5．它可以对线性IC的11项交直流参数进行测试及功能测试。 6．提供自适应测试方式：以样片为基准，对同型号IC 进行筛选测试进行快速筛选。 GT2200A基本使用方法: 先取一个“有代表”性(满足使用要求)的芯片进行“学习”，即将该芯片的各种应测数据保存起来。再对其他芯片进行有选择性的“比较”测试，即对您所关心的数据进行自动测量，并与“学习”数据进行比较，显示出优劣结果。操作十分简单，容易掌握；尤其是大批量筛选更为简单，优于样板的就通过，不必一一读取测量结果，并逐一查看其是否符合要求...
供应GT2100A数字集成电路多参数测试仪
信息内容：产品简介： 目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼! GT2100A数字集成电路多参数筛选测试仪,帮助您解决这类烦恼！ GT2100A 数字集成电路多参数筛选测试仪，利用的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。 数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。 系统的主要特点: 1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。4．...
