模块化TLA7000系列逻辑分析仪可提供必要的速度和灵活性,帮助您捕获关于当前最快速的微处理器和存储器设计的逻辑细节信息。准确地发现复杂错误的根源,借助一目了然的大尺寸显示器和很高的数据吞吐量提供您需要的信息,并通过同一个探头提供模拟和数字信号的时间相关视图。
功能 |
优点 |
MagniVu™采集 | 借助于所有通道上的较高采样分辨率(20 ps)完全避免定时或状态采集模式下的事件遗漏。 |
iCapture™ 多路复用 | 通过一个逻辑分析仪探头同时采集数字和模拟信号,消除双重探测。 |
通过旗标来标记毛刺 | 避免了通过专用功能来手动搜索所有通道以显示毛刺出现的时间和通道的需要。 |
TS/TH 违例触发 | 利用能够自动获得断续设置和保留违例的实时违例触发功能避免耗时而复杂的电路输出监测任务。 |
iView™ 显示 | 通过集中显示时间相关的、集成的模拟与数字数据获得全面的系统可视性 |
iVerify™ 分析 | 通过多通道总线分析(使用示波器生成的眼图)迅速发现信号完整性问题。 |
自动测量 | 利用先进的测量轻松地总结您的设计效果,这些测量结果包括:频率、周期、脉冲宽度、占空比以及边沿计数。 |
拖放触发器 | 通过简单而直观的触发器设置快速隔离事件。触发器包括:通道边沿、通道值、总线值、多群组值、毛刺、设置和保持违例,或者“在任何情况下触发”(Trigger on Anything)。 |
当前的设计往往非常复杂,在测试过程中需要使用各种激励信号。AFG3000系列具有12种标准波形、任意波形功能以及信号衰减选项,可满足广泛的应用需求。一流的性能确保了信号的准确生成。大尺寸显示屏和25个快捷键使AFG3000系列易于学习和使用。 AFG3000系列产品型号: 型号 带宽 采样率 内存深度 通道 输出** AFG3011 10 MHz 250 MS/s 128 K 1 20 Vp-p AFG3021B 25 MHz 250 MS/s 128 K 1 10 Vp-p AFG3022B 25 MHz 250 MS/s 128 K 2 10 Vp-p AFG3101 100 MHz 1 GS/s 128 K 1 10 Vp-p AFG3102 100 MHz 1 GS/s 128 K 2 10 Vp-p AFG3251 240 MHz 2 GS/s 128 K 1 10 Vp-p AFG3252 240 MHz 2 GS/s 128 K 2 10 Vp-p **Into 50 Ω Load 功能 优点 双通道 以一台设备代替两个信号发生器,提供两个紧密合成或两个完全独立的信号,从而节省成本和桌面空间。 2 MS/s采样率 生成具有精细定时分辨率的波形。 20 Vp-p振输幅出,至50 Ω负载(AFG3011) 通过创建高振幅信号节省成本和设置时间,无需使用外部功率放大器。 25 个快捷键 ...
为挑战的系统设计提供信号高保真度 如今的高速设计使得信号通道特征化和误码率(BER)性能分析比以前更加困难。借助的TDR(时域反射仪)带宽,最快速的S参数测量以及最全面的分析工具,DSA8200数字串行分析仪提供了一个全面的网络和链路分析解决方案。 功能 优点 最多4个真实差分通道 利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备,如放大器。 高带宽(50 GHz)时域反射仪 以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。 IConnect® 信号完整性 利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。 串行数据网络分析 (SDNA) 通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动,确保可靠的系统运行。 串行数据链路分析 (SDLA) 通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置化接收器的眼睁时间。 远程采样头 通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。