薄膜厚度测量仪
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | ST5000 | |
| 品牌/商标： | K-MAC科美仪器 |
活动范围 ~300mm x 300mm
测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸 40㎛/20㎛,4㎛(option)
测量速度 1~2 sec./site(fitting time)
应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Large Size Wafer Measurement
选择 Transmittance Module
Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST)
接物镜旋转器 Quintuple Revolving Nosepiecs
焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
附带照明 12v 100W Halogen Lamp
- 主要特点
- 仪器介绍
北京三尼阳光科技发展有限公司
公司信息未核实
- 所属城市：北京 北京市
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- 联系人： 王先生
- 电话：010-65202180
- 传真：010-65202182
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