供应X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | X-Strata980 | |
| 品牌/商标： | OXFORD |
X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪应用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
--贵金属合金分析和牌号鉴定
X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪简介：
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
X-Strata980|X荧光镀层测厚仪|痕量元素分析仪特点::
--100瓦X射线管
--25mm2PIN 探测器
--多准直器配置
--扫描分析及元素分布成像功能
--灵活运用多种分析模型
--清晰显示样品合格/不合格
--超大样品舱
--同时分析元素含量和镀层厚度
- 所属城市：广东 东莞
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 李先生
- 电话：0769-86279022
- 传真：0769-86279122
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供应CM95-铜箔测厚仪-表面铜测厚仪
信息内容：CM95-铜箔测厚仪-表面铜测厚仪可以在不到一秒的时间内测量出印刷线路板衬底上从0.125到4.0盎司（5到140μm）的铜层厚度。 CM95为英国牛津仪器公司美国工厂生产，具有使用方便迅速快捷特性 CM95-铜箔测厚仪-表面铜测厚仪应用：迅速精确地测量出规格铜箔的厚度，避免材料报废和返工的高成本 仅有此款商业用手持式测厚仪可以用于铜箔测厚的各种范围 CM95-铜箔测厚仪-表面铜测厚仪性能： 采用微电阻原理测量，的轻触探针设计，能防止铜表面擦伤或被损坏，避免铜板被破坏 经证明，此款产品经久耐用且使用简便 工厂预校准，无需标准样品 低电量警告 通过CE认证 适用板材：刚性，柔性，单层，双层和多层板,裸箔片 CM95-铜箔测厚仪-表面铜测厚仪特性： 防止高废料和返工造成的浪费——快速精确的识别特定的铜箔厚度 的现有的经济实用的便携式测厚仪能测量整个范围的铜箔厚度 消除板材的磨损——新的CM95有一个独特的软探针防止铜表面被擦伤或损毁 耐久性强，使用方便 工厂调校，不需要任何标准 低电量警告 CE认证
