PSC-3可控硅快速筛选台
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PSC-3可控硅快速筛选台
◎能测试筛选单向可控硅和双向可控硅。
◎每只器件整个测试筛选过程只需5秒左右，只测常温参数只需2秒多。
◎测试筛选包括：V F、I DR、I RR、V GT、I GT、I H的常温、高温值及变化量。
◎上述参数能自动一次性全部或选项部分检测。
◎测试口更换器件自动识别、连续检测，超标器件自动声光报警。
◎可储存上百种器件测试条件、失效判据，并能任意修改、调用。
◎122×92mm大屏幕背光液晶显示，中文菜单式界面，操作简便，只需选择器件型号即可进入连续测试。
◎可选配：打印机专用接口及打印机。
◎计算机接口及上微机软件
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PIC-2集成电路高温动态老练实时测试系统
信息内容：电子测试仪器仪表 PIC-2集成电路高温动态老练实时测试系统 PIC-2集成电路高温动态老炼实时测试系统是参照美国军用标准MIL-STD-883和国家军用标准GJB548进行设计，能对大中小规模的数字、模拟集成电路作高温静态/动态老炼试验；还能进行老炼中间测试试验（TDBI）。系统采用以PC机为主控上位机，16套专用单片机为下位机的集散控制系统。PIC-2能同时老炼16种不同器件，在老炼过程中控制其老炼电压、输入信号、试验时间及温度等。系统中储存了数千种集成电路的老炼测试参数，能在老炼过程中自动检测出失效器件，并根据用户自己的老炼测试要求，随意修改参数。适合整机厂、器件厂、研究所对集成电路进行质量检测、产品分析和器件筛选测试。 在老炼过程中测试（TDBI）的优点：1、能确保老炼效果，不可能由于人为原因造成的“假”老炼现象。2、能优化老炼测试时间。3、清除“复发”性故障。4、可提供器件动态老炼失效曲线。 主要技术指标及功能：1、试验容量：16通道，每个通道40工位。2、试验温度：室温～+150℃。3、程控老炼电源：每个通道±3V/3A～±15V/3A。高稳定度、低纹波、过压、过流保护。4、主频：数字通道62Hz～256KHz，模拟通道3.9Hz～16KHz，32路可编...
