FRT光学表面量测仪器 表面轮廓仪 原子力显微镜 膜厚测量 粗糙度测量 3D形貌 mems
型号/规格:FRT102#$FRT%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$德国
产品描述:详细信息 仪器简介: 功能 ◆ 三维轮廓 ◆ 粗糙度(Roughness) ◆ 形貌(TTV,BOW,Warp) ◆ 膜层厚度(Film Thickness) ◆ 原子力显微镜(AFM) ...
产品描述:Nanite原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜,真正非接触式原子力显微镜,横向力/摩擦力显微镜(LFM),导电原子力显微镜,磁力显微镜(MFM),开尔文探...