型号/规格:GWST-1000690#$%^691#$生产商%^692#$全新%^693#$%^694#$350000%^695#$北京
产品描述:GWST-1000型高温四探针综合测试系统(包含薄膜,块体功能)是为了更方便的研究在高温条件下的半导体的导电性能,该系统可以完全实现在高温、真空及惰性气氛条...
型号/规格:JKZC-ST4690#$%^691#$生产商%^692#$%^693#$%^694#$%^695#$
产品描述:JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1...
型号/规格:bamo探针1909#$1000%^1910#$220%^1911#$10%^1912#$10%^1913#$10%^1914#$1%^1915#$10%^1916#$20%^1917#$10%^1918#$10
产品描述:bamo探针
型号/规格:EnviroPro46#$%^47#$贸易商%^137#$全新%^641#$%^48#$澳大利亚
产品描述:EnviroPro是澳大利亚Entelechy Pty公司生产的一款管式完全密封免维护的土壤水分探头,采用高频电容法测量原理,来测量土壤中的水分、温度和盐分。分4个规格,...
型号/规格:SZT-I3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:甩卖数字式四探针测试仪 型号:SZT-I 是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体...
型号/规格:SX1934D3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:SX1934D型数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称...
型号/规格:3413072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:双电测四探针电阻率测试仪 型号: 341 本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量...
型号/规格:T-105 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:长探针食品温度计 型号:T-105 规格参数 1.温度范围:-58°F to 572°F (-50°C to 300°C) 2.度:±1°C【-20°C~100°C】,
型号/规格:T-105 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:长探针食品温度计 型号:T-105 规格参数 1.温度范围:-58°F to 572°F (-50°C to 300°C) 2.:±1°C【-20°C~100°C】,
型号/规格:TRST-2253 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:四探针电阻率检测仪甩卖 T 仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量半导体材料的电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方阻)。换上特制...
型号/规格:TRST-22533072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:TRST-2253 型数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量半导体材料的电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方阻)。换上特制...
型号/规格:TR-RTS-3 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:手持式四探针测试仪 TR-RTS-3 体积仅为:185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高); 重量:350g; 使用锂电池供电,充电可连续使用100小时;
型号/规格:SX1934 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:数字式四探针测试仪 SX1934 产品特点 仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用...
型号/规格:ST2258A3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:多功能数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。
型号/规格:M-3型3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:有货手持式四探针测试仪 是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
型号/规格:SX1934 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:数字式四探针测试计 SX1934 是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。 仪器...
型号/规格:TR-RTS-3 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:手持式四探针测试仪甩卖 宽、高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计; 体积仅为:185
型号/规格:M-3型3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:M-3型销手持式四探针测试仪 是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
型号/规格:SZT2B3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:四探针电阻率检测仪 型号:SZT2B 1.主机采用的先进电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影...
型号/规格:JZ-NB171046#$%^47#$制造商%^137#$全新%^641#$%^48#$北京
产品描述:电解质薄层水流测速仪系统由四部分组成,即电解质脉冲发生器、感应探针、数据采集与存储及参数计算,前两部分主要实现控制功能,后两个部分简称为测量系统。