明克斯DIO562 LC 手持式超声波探伤仪

产品概述：

    明克斯DIO562 LC 手持式超声波探伤仪可用于检测和测量各种材料内部缺陷及不连续性。

产品特征：

　　每一种探伤仪可以配置一个或两个用于探伤 检验和厚度测量的超声波探头。
　　该系列拥有很多产品，由于被测物体的属性（见上文）特征会有所不同
　　接收信号可进行数据处理
　　每台仪器装有一个内存卡可连接PC
　　每台探伤仪装有3个带有报警器的控制门
　　AVG and DAC曲线缺陷评估
　　FBH, SDH 和BWE校准
　　进行回波高度的平均值和峰值处理
　　冻结峰值
　　通过图象电子放大和界面控制调整扫描基线
　　信号过滤/噪声比率增益