可应用在非均匀单一样本上局部和准确位置的精确测试的微焦点XRF分析仪

准确测量无铅焊料、电子元器件、电路板、贵重金属、珠宝、艺术品、矿物质和合金的化学组成成分；可专用于RoHS/WEEE规定的六种有害物质检测。

其具体特点如下：

1. 检测光点大小在0.2mm-6mm之间可调
2. 数位彩色成像，且放大倍率能达到68倍
3. X-Y两轴“Point与Shoot”定位测量模式
4. 大型样品室适用于各种尺寸及形状的样品

Innov-X Hawk-i台式XRF聚焦分析仪

采用了的X射线探测器和分析技术的。凭借着的测试速度与准确性，Innov-X Hawk-i 台式分析仪的应用非常广泛，包括ROHS/WEEE/无铅电子元件的测试、珠宝设计、贵重金属、多种合金分析以及法医鉴定。Hawk-i 分析仪微小的X光束尺寸，可移动的X-Y坐标台与先进的光学技术使其应用效果非常理想。

应用说明：

ROHS/WEEE/无铅的电子元件
使用Hawk-i 系列分析仪可监测：
*塑胶中的有毒金属：Pb，Hg，Cd，Br，Cr以及更多。
*完全符合ROHS/WEEE具体条款要求
*检测无铅的电子元件：
*可作为新无铅焊料QC。
*电子元件废料中的金属/合金测定。
*PCB板，连接器，电线和废料上特殊点的分析。

珠宝
应用Hawk-i 台式分析仪可以分析黄金，白金，银，铂钯合金。

贵重金属
Hawk-i 系列分析仪可提供：
*青铜，黄铜，钢及其它合金的元素分析。
*生产过程中的无损检测。

法医鉴定
在犯罪研究中，Hawk-i 系列分析仪有以下用途：
*证据分析：涂料、玻璃碎片、墨水、爆炸物的副产物。
*土壤、子弹、GSR中的金属元素，Pb、Ba、Sb、合金。