金相显微镜 XLE-1

XLE-1型 大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。金相检测显微镜的特点：1.放大倍数：40倍至400倍；2.超大型载物台 技术参数 1.       机械筒长 160mm 2.

物镜	数值孔径	有效工作距离（mm）	介质
4×	0.10	17.912	干
10×	0.25	6.544	干
20×	0.40	1.05	干
40×	0.65	0.736	干

3.目镜  10×  视场直径(mm) --18 4.放大倍数  40×--400× 5.载物台面积  350mmX255mm   纵向移动范围---200mm   横向移动范围---200mm 6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值0.002mm 7.光源 钨卤素灯6V20W。内藏式连续调光电源 8.物镜转换器  四孔式 (三孔式) 9.目镜筒  三目镜  (双目镜)