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BERTScope BSA系列误码率分析仪
主要特点和优点
- 高达26Gb/s 的码型发生、误码分析和BER 测试能力
- 集成的高精度带压力测试信号生成
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- 100MHz 的正弦抖动(SJ)频率
- 随机抖动(RJ)
- 有界不相关抖动(BUJ)
- 正弦干扰(SI)
- 加压力的电眼图测试包括:
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- PCI Express
- 10/40/100 Gb 以太网
- SFP+/SFI
- XFP/XFI
- OIF/CEI
- Fibre Channel
- Serial ATA I/O
- USB 3.0
- 更多
- 抖动裕量(Margin)测试、抖动容限一致性模板测试
- 集合模板测试、抖动峰值、BER 轮廓和Q- 因子分析于一身 的物理层测试套件
- 可变深度的眼图和模板测量s
- 集成的眼图和BER 相关分析
- 为满足XFP/XFI和OIF-CEI等标准所要求的误码率水平 为10-12 的模板性能评估,提供了一致性Contour 测试
- Jitter Map选件系统丰富的抖动解析-使用长码型(如:PRBS31) 抖动三角形测量法
- 丰富的差分分频时钟输出,提供仪器级的时钟源
- 专利的错误定位分析技术
应用
- 设计验证包括信号完整性、抖动和时序分析
- 对高速串行系统、复杂设计的性能测试
- 工业高速串行数据流标准验证、鉴定测试
- 设计/ 验证高速I/O 组件和系统
- 信号完整性分析- 模板、峰值抖动、BER 轮廓、Jitter Map 和Q- 因子分析
- 设计/ 验证光发射接收机
多域观测
眼图一直作为系统性能简单、直观的表现,但是很难和BER性能联系起来,因为测试仪器从根本上有很大的差别。示波器测量的眼图是由较少的测试样本组成,不容易发现一些罕见偶发的事件。误码仪 (BERT) 能够对每一个比特计数,因此能够提供基于很大量数据集样本的测试,但是测试结果缺乏对信息的直观的表征和故障排查。
BERTScope结合两者的优势,允许快速、简单的观测眼图,并比传统的眼图测试样本多至少多两个数量级。可以按照上图的例子中所示的那样,通过简单的移动BERT 的采样点,将光标放在感兴趣的地方,使用强大的误码分析能力,获得更多更深入的信息。例如,检查码型对当前上升沿影响的敏感程度。或者,使用一键式BER Contour测量,检验是否性能问题是有界的,或者可能会导致哪些故障。在每一个例子里,测试样本码型可以是231-1的伪随机码,可以帮助建立模型或者故障定位。
简化Tx 端测试
使用BERTScope模板功能和DCRj12500A参考接收机测试光模块Tx 端
无论数据通道是光接口还是电接口,BERTScope 都会提供前 所未有的洞察力。除了传统的视图和测量之外,BERTScope 能提供更多的信息帮助调试、性能测试,加速产品的设计。
数据丰富的眼图
BERTScope测试光接口信号。在这个例子中,使用了Picometrix接收机,并自动切换光域测量。
正如前面所示,BERTScope 在测量数据样本深度方面与传统的眼图测试有着巨大的差异。这个差异意味着你能看到更加真实的情况,无论是什么样的系统,更多低概率事件将会随着每次长数据码型运行而出现,不管是有随机噪声,还是从VCO引起的随机抖动。通过一键式的BER Contour、抖动峰值和Q-因子测试,能够增加对系统更深层次的认识,增加对设计的信心。
深度模板测试
由于可以改变采样深度,因此BERTScope 即可以利用深度测量,得到高精度的系统的性能,又可以用少量样本测试,和取样示波器的测试结果匹配。在上图所示的是光接口的眼图测试。如果将BERTScope的采样深度仅设置为3000 个波形,BERTScope 在1 秒钟之内就能生成眼图。测量得到的裕量有20%,和取样示波器的测试结果一致。下面一点的图显示的是使用一致性轮廓测量得到的误码率水平为10-6的结果,模板裕量减少到17%。
眼图测试样本深度优势至少是模板测试的10倍。不像其他误码仪提供的“伪”模板测试那样,BERTScope能对模板边沿的每一个样点进行采样,包括在眼图之上和之下的区域。不仅如此,每一个点都能看到之前从未看到过的深度。这意味着既是使用工业标准化模板或自定义模板持续测试几秒钟,也能确保被测设备没有隐藏的问题。
为工业标准提供高精度的抖动测试
无论测试码型的长短,靠推算得到抖动结果得方法是不能达到抖动测量精度的。BERTScope 能快速测量误码率水平为10-9(高速信号可达10-10),或者等待仪器直接测量到10-12水平。对于这两种测试方法,BERTScope 的一键式测量都严格符合MJSQ 定义的抖动测试方法,并且BERTScope 中内部的延迟 控制是误码仪中的,可以确保抖动测试的精度。可使用内建的抖动计算模型,包括TJ,RJ,DJ,或者将测试数据输出,进行自定义的抖动建模分析。
模板一致性轮廓测试
前许多的测试标准像XFP/XFI和OIF CEI等都定义模板测试,其目的是确保在误码率水平为10-12时眼的张开度。一致性轮廓(等高线)视图可以方便的了解到在不同误码率水平下模板是否通过。
快速选型指南
型号 | 比特率 | 带压力眼图 – SJ, RJ, BUJ, SI | 类型 |
---|---|---|---|
BSA260C/CPG | 26 Gb/s | Opt. STR | 信号发生器/ 分析器 |
BSA175C/CPG | 17.5 Gb/s | Opt. STR | 信号发生器/ 分析器 |
BSA125C/CPG | 12.5 Gb/s | Opt. STR | 信号发生器/ 分析器 |
BSA85C | 8.5 Gb/s | Opt. STR | 信号分析器 |
灵活的时钟模式
BERTScope STR 选项的时钟路径
BERTScope 非常有特色时钟产生路径,为现实世界中不断涌现出的设备提供了灵活的测试方案。无论是电脑插卡还是硬盘,通常都需要提供子速率(sub-rate)系统时钟,例如PCIExpress?中100MHz的时钟。为了能使被测系统正常工作,需要提供差分的系统时钟,而且时钟的幅度、偏置各有不同;BERTScope 内部提供灵活的分频系数,其灵活构架可以完成各种时钟的生成。
PCI Express Tx 端测量- 上面的截图是用BERTScope 进行的一致性测量。PCI Express 子卡插在一致性测试板中,BERTScope 提供正确幅度和偏置的100MHz 的差分信号作为时钟。使用BERTScope CR(时钟恢复模块)为子卡输出的数据信号按照一致性要求的环路带宽进行时钟恢复。左上图显示的是被测设备通过了相应的测试模板。右上图是该信号使用Q- 因子算法得到精确的去加重平均幅度。下方的两截图是对于跳变位所做的同样的测量。
扩频时钟(SSC)通常用于串行系统中,以减小EMI 的干扰。BERTScope可以调节的SSC的调制幅度、频率和调制的轮廓,如三角波、正弦波等,因此允许测试任何一种使用SSC技术的一致性标准。还可使用额外的调制器和信号源产生耦合了高幅度、低频率的正弦抖动(SJ)的时钟。
处理闭合的眼图
BERTScope 的用户界面设计友好、操作简单。上图显示的是不同tap权重对预加重影响的时域特性。下方的波特图显示是滤波器如何补偿通道的损耗。
随着通道中电信号的数据率越来越快,通道的损耗经常导致信号在Rx端的眼图闭合。在实际的系统中,常使用Equalization(均衡)补偿通道的损伤,以得到“张开的眼图”。Tektrnoix 提供了强大的工具来帮助设计者测试和鉴定Tx/Rx组件是否满足标准。
对于Rx测试,DPP125数字预加重器为BERTScope增加了经校准的预加重输出,用以模拟Tx 端的预加重特性。预加重目前广泛使用在10GBASE-KR, PCIe, SAS, DisplayPort?, USB3.0 等标准中。
特点:
- 1-12.5Gb/s 时钟频率
- 两种型号分别支持
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