XRF X荧光光谱仪

技术参数：

ElvaX 基本规格:
元素侦测范围 从氯Cl (原子序Z=17)~铀U (Z=92),
数据搜集时间 从10秒至1200秒 (sec)
X射线管
阳极 钨 (W) 或 铑 (Rh) 靶
140微米 铍 (Be) 窗
气冷式
X射线产生器
电压: 4-50千伏 (kV)、100V步进式可调
电流: 0-100μA,在0.2μA步进式可调
功率: 5瓦 (W)
准直器 3mm/2mm/1mm 手动切换
稳定性 每8小时变化量小于0.1%
X射线侦测器
探测器类型 固态Si-PIN二极管电子冷却式
作用区域 6mm2
能量分辨率 优于145ev (在5.9V, Fe55同位素)
铍窗厚度 8um
光谱处理器
脉冲处理器 数字脉冲处理器
模拟数字转换 4096频道
缓冲存储器 4096 32位频道
定时器 真实real 和“实时“(live)
电源 110-220V, 50/60赫兹 (Hz)
耗电量 50瓦
尺寸 430mm × 340mm × 200mm / 工业级:500mm x 500mm x 380mm (选配)
重量 18Kg / 工业级: 35Kg (选配)
计算机系统
操作系统 兼容微软Windows 98/2000/XP/NT 之 ElvaX 分析软件
定量分析 FP (Fundamental Parameters), quadratic stepwise multiple regression, manual spectra comparison.

主要特点：

1,世界采用低电流(100uA)X 射线发生器设计的RoHS 检测仪
常规能量色散性荧光光谱仪之X-ray发生器电流为1000uA,而ElvaX采用了垂直角度探测器设计，在大大提高特征射线面积接收比的同时，降低了对激发X射线强度的要求(电流降至100uA,是同业产品的十分之一)，从而提高了X-ray发生器及射线管激发耗损比，延长寿命。
2,的探测器设计方案
ElvaX为RoHS检测之需求而特别选用的Si-PIN探测器，采用电子制冷，免除了使用液氮制冷方式的检测成本及潜在不稳定性，使用安全可靠；拥有的应用分辨率(优于145eV,5.9keV/Fe55同位素条件下)；采用垂直角度探测器设计，使探测器与测试样品形成闭合，大大提高了特征射线面积接收比，使元素的成分鉴定及浓度解析精准无误。
3,针对RoHS 检测特点自主设计之模块高压电源，降低设备重量及体积，提高系统稳定性
ElvaX是世界的针对RoHS检测的特点采用自主设计的模块化高压电源的RoHS检测仪，从而降低了设备重量及体积，由于高压电源针对X射线发生器及光管的配合特点设计，从而大大提高了系统稳定性，提高了系统测试精度。
4,可定制不同尺寸样品腔，实现更广范围检测
ElvaX可标配三种不同规格的样品腔：标准型、加大型及8腔自旋型，完全满足从颗料状物质到大型平板式等广泛范围内的样品检测需求。
5,特殊设计的数字转换电路，最短的数据获取时间
ElvaX彩用特殊设计的4096信道数字转换电路，转换时间为全球最快的0.2微秒，提高了工作效率，使批量样品的检测得心应手。
6,的人机对话界面，简单易学，使用方便
ElvaX 为RoHS检测特别设计的软件具有亲和的人机对话界面，一键式操作即可完成样品检测，内建多种运算模式，使未知元素的定性及定量分析变得简单快捷。
7,确检测Pb、Cd、Hg、Cr、Br、As、Sb、Se、Ba 等多种元素
ElvaX为客户设计的专用软件能对Pb、Cd、Hg、Cr、Br、As、Sb、Se、Ba等多种元素进行定性和定量的分析。