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Bruker S4 X射线荧光光谱仪
Bruker S4 X射线荧光光谱仪

Bruker S4 X射线荧光光谱仪

价 格:
电议
型 号:
S4 PIONEER
产品介绍

Bruker S4 X射线荧光光谱仪

品牌布鲁克Bruker型号S4 PIONEER
类型智能元素分析仪器测试范围Be4~U92
测量时间不限测量精度高精度
电源电压208(V\HZ) 适用范围钢铁、冶金、耐材、石油、化工、机械、电子、磁性材料、陶瓷、水泥、建材、地质、环保等领域

 

S4 先锋号2.7kW 荧光仪是德国布鲁克AXS全新推出的X 射线荧光光谱仪,它采用了全新设计的发生器,全新设计的光学编码定位系统测角仪,全新优化设计的光路系统,基于当前的电子技术全新设计的电路板,仪 器小巧、结构紧凑、灵敏度高、性价比。它完全突破了X 射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念,以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果化、体积小型化、功 能化的一次成功尝试。 应用:· 环境分析(土壤、植物、水、大气颗粒物、污染物)· 在制药和刑侦鉴定实验室里进行鉴定工作· 血液,尿液,组织中的有毒元素· 考古与修复· 质量控制,如纯物质· 食品与饮料分析· 陶瓷水泥主要优点:
· 采用技术成熟的油绝缘方式,与固态发生器相比,运行更稳定可靠,免维护。· 配有2.7kW 发生器,100mA 的激发电流,60KV 的激发电压,当外电压输入波动1%时,发生器稳定度为±0.0005%。· 配有60 位一体化机器人全自动进样器,机械手沿X-Y 轴运动,可靠性好,进样速度快· 独特的真空封挡技术,保护光谱室不受污染,始终保持光谱室真空状态,延长了光谱室器件的寿命· 下照射测量方式避免了因测量距离的变化带来分析误差· 光学定位系统测角仪代替了蜗轮蜗杆机械式测角仪,使测角仪的尺寸大大地缩小· 专利技术、全新推出的XS-系列人工多层膜晶体,灵敏度全面提高· 采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,从而进行全面的集成的基体效应修正-变动理论Alpha 系数法(独有技术)· 使用简便、功能强大的无标样定量分析软件及完善的故障诊断与服务软件技术参数:
· 测量对象:固体、粉末及液体样品; 测量元素范围:4Be- 92U· 分析浓度范围:可从亚ppm 至100%,综合长期稳定性优于0.05%· 样品照射方式:下照射· 高压发生器:连续可调,电流、电压的调节全部由计算机控制输出功率2.7kW, 20-60KV 间,1kV 连续可调,5-100mA 间,1mA· 测角仪:θ/2θ分别驱动

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