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产品概述
HAST试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、高湿等加速寿命信赖性试验，适用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。
产品特性
内胆采用双层圆弧设计，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果；采用高效真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态；
采用7寸真彩式触摸屏，拥有99组4950段程序，具有USB曲线数据下*功能，RS-485通讯接口；
采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。
执行试验方法与标准
·GB 10589-89低温试验箱技术条件
·IEC 68-2-14试验N
·GB 11158-89高温试验箱技术条件
·GJB 150.3-86/150.4-86
·GB 10592-89高低温试验箱技术条件
·GB 2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验
·A:低温试验方法;
·GB 2423.1低温试验、试验A
·GB 2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验
·B:高温试验方法;
·GB 2423.2高温试验、试验B
·GB 2423.22温度变化试验，试验N
产品参数
型号 | HAST-35（不饱和型） | HAST-55（不饱和型） | PCT-35（饱和型） | PCT-55（饱和型） | |
内箱尺寸（mm） （圆筒型压力内箱） | 直径? | 350 | 550 | 350 | 550 |
深D | 450 | 650 | 450 | 650 | |
外箱尺寸（mm） | 宽W | 880 | 1080 | 880 | 1080 |
高H | 1560 | 1775 | 1560 | 1775 | |
深 | 1160 | 1360 | 1160 | 1360 | |
温度范围 | +105℃～+135℃ (145℃为特殊选购机型) | +105℃～+162.5℃ (可定制) | |||
湿度范围 | （1）HUM不饱和测试模式：65%R.H~100%R.H （2）STD饱和测试模式：100%R.H | 100%R.H （STD饱和测试模式） | |||
| 压力范围 | 表压力：+0.2kPa ～ 200kPa *压力：100kPa ～ 300kPa | ||||
温度波动度 | ±0.5℃ | ||||
温度分布均匀度 | ≤3.0℃ | ||||
温度偏差 | ≤±3.0℃ | ||||
湿度波动度 | ±3.0％R.H | ||||
湿度偏差 | ±5.0％R.H | ||||
压力偏差 | ≤±2 kPa | ||||
升温速率 | +25℃～+135℃， 全程平均约 45 min (空载，不发热) | ||||
升压时间 | 常压 ～ 200kPa 45min | ||||
内箱材质 | SUS316不锈钢板，内胆整体全满焊焊接而成 | ||||
外箱材质 | 优质冷轧钢板，表面静电粉体烤漆 | ||||
保温材质 | 超细玻璃棉保温层，阻燃等级A1 | ||||
箱门 | 单开门，平嵌式旋转把手 | ||||
机组 | 蓄水箱、散热风口、自动补水泵、补水电磁阀，水位盒、排水孔 | ||||
应急泄压 | 手动泄压阀 | ||||
控制器 | 科明7寸彩色触摸屏智能控制器 *操作系统：科明KM-5160 压力温湿度版 | ||||
保护装置 | 超温保护、箱内压力保护、断路、过载保护、风机过载保护、箱门紧锁保护、缺水保护、漏电保护、报警动作 | ||||
标准配件 | 不锈钢样品架2层、移动脚轮(配脚杯)4式 | ||||
*注：各参数尺寸及外观根据客户要求量身定做
我们保留修改技术参数的权利
