询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：Si-Pin探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
技术指标
型号：Thick800A 光谱测厚仪
元素分析的范围涵盖了从硫(S)到铀(U)的所有元素。
可以同时分析超过30种元素，并进行五层涂层处理。
分析含量通常在ppm到99.9%之间。
镀层的厚度通常在50微米以内（具体取决于材料种类）。
可以选择任意数量的分析和识别模型。
相互独立的基体效应修正模型。
多变量非线性回归程序
适应温度范围为15℃至30℃。
电源：交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外形尺寸：576（宽）×495（深）×545（高）毫米。
样品室的尺寸为：500毫米（宽）× 350毫米（深）× 140毫米（高）。
体重：90公斤
工作原理
物质在受到X射线或粒子射线照射后，会因吸收过多能量而变得不稳定。要使这种物质恢复到稳定状态，就必须将过剩的能量释放出来，而这时能量以荧光或光的形式释放。X射线镀层测量仪或成分分析仪的工作原理就是测量这些释放出的荧光的能量和强度，从而进行定性和定量的分析。
标准配置
光谱测厚仪开放式样品腔。
二维移动样品平台，配备可上下调节的探测器和X光管，实现三维空间的移动。
双激光定位系统。
铅玻璃防护罩。
光谱测厚仪
信号检测电子电路。
高低压电源装置。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机和喷墨打印机
光谱测厚仪是一款功能强大的电镀层厚度分析仪器，配备了专门开发的软件，能够在电镀行业中发挥出色的性能，检测包括镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银和镀钯等电镀和化学镀层的厚度。
可测量单层、双层和多层合金镀层的800A厚铜上镀锡X射线测厚仪是天瑞公司基于多年经验研发的专业测量仪器，专为镀层行业设计。该仪器支持自动软件操作，能够进行多点测试，软件可控制仪器的测试点及移动平台。
性能特点
光谱测厚仪能够满足不同厚度和不规则表面样品的测试需求。
0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
高精度移动平台能够准确定位测试点，其重复定位精度低于0.005毫米。
使用高精度激光技术，可以自动定位测试的高度。
通过定位激光来确定光斑的位置，以确保测试点与光斑对齐。
鼠标可以操作移动平台，点击鼠标的地方就是检测点。
高分辨率探头提升了分析结果的准确性。
优良的射线屏蔽效果
测试口的高度敏感性传感器保护措施。
售后服务
公司的售后服务体系主要包括三个部分：售后服务区域划分、客户服务热线和技术指导与维护。目前，服务区域已覆盖主要省市，划分是基于客户分布及公司业务区域。中大陆共分为12个工作区域，包括：广州、佛山及湖北片区；厦门片区；珠海、中山及云贵川片区；北京、天津、河南、河北片区；山东片区；苏州、安徽和上海片区；惠州、汕头及福建片区；深圳、东莞片区；浙江片区；山西、陕西及西北片区；青海片区；以及东北三省片区。此外，还包括香港、台湾及海外区域。为提供技术支持与维护，公司通过电话远程服务、上门服务、返厂维修及对客户使用人员进行技术培训等方式来保障服务质量。
