- 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
- 探测器:Si-Pin探测器
- 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求:15℃至30℃。
- 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
镀银层厚度测厚仪性能优势
镀银层厚度测量仪的精密三维移动平台
样本观测系统
的图像识别
轻松完成深槽样品的检测。
镀银层厚度测厚仪打开盖子后,样品台会自动退出,同时Z轴测试平台会升起,便于放置样品。
关闭盖子,推动样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦。
直接点击场景或局部图像以选择测试点;
点击软件界面上的测试按钮,系统会自动执行测试并展示结果。
镀银层厚度测量仪配备四种微孔聚焦准直器,并具有自动切换功能。
双重保护机制,确保无缝防撞。
使用大尺寸高分辨率探测器,降低检测限,提高测试的准确性。
自动智能控制方法,按键操作!
开机时自动进行自检和复位。
镀银层厚度测量仪的技术参数
SDD探测器:分辨率可达135eV。
分析的元素范围包括硫(S)到铀(U)。
镀银层厚度测厚仪。
同时检测超过24种元素,支持最多5层的镀层。
X射线金属镀层测厚仪的分析含量范围一般为2ppm至99.9%。
镀层厚度通常在50μm以内(具体根据材料的不同而有所差异)。
微孔准直技术:可实现小至0.1mm的孔径和光斑。
样品观察:配备了两个工业高清摄像头,分别用于景观和局部观察。
准直器包括四种组合:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm和Ф0.3mm。
操作环境湿度要求:不超过90%
操作环境温度范围:15℃至30℃
仪器尺寸为:宽690毫米 x 深575毫米 x 高660毫米。
样品室的尺寸为:520毫米(宽)x 395毫米(深)x 150毫米(高)。
样品台的尺寸为:393毫米(宽)x 258毫米(深)
镀银层厚度测厚仪是天瑞仪器的优势产品,突破了外部垄断,主要用于检测金属镀层的厚度,包括镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀银、镀铑和镀钯等。该仪器广泛应用于电器、电动工具、汽车配件、高压开关、制冷设备、精密五金、电镀加工、卫浴产品以及PCB线路板等领域。thick8000是天瑞仪器型号的X射线金属镀层测厚仪,配备三维移动平台和高清射线系统,使整个测试过程更加便捷清晰。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司专注于光谱、色谱和质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
公司的X荧光检测技术具有快速和无损的优势。X荧光分析仪可广泛应用于分析从钠(Na)到铀(U)之间的各种元素或化合物,适用领域包括:电子电器(RoHS检测)、珠宝饰品(贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71-3标准)、建材(如水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁和有色金属)、石油(微量元素如硫和铅)、化工、地质勘探、商品检查、质量检测,甚至还可以用于人体微量元素的检测等。