询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
X射线荧光镀金测厚仪产品介绍
X射线荧光镀金测厚仪，又称为X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚度测试仪或电镀膜厚仪，主要用于测量金属电镀层的厚度。其广泛应用于电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝饰品、汽车配件、电阻电容、螺栓、螺母、弹簧等紧固件，以及PCB、FPC、SMD、高压开关、天线、五金卫浴、汽车零部件、功能性电镀件和装饰品等领域，还可以用于检测机构、研究所以及高等院校等单位。
产品优势
X射线荧光镀金测厚仪配备高精度定位激光，能够自动确定测试高度。
通过定位激光来确定光斑的位置，确保测试点与光斑准确对齐。
鼠标能够控制移动平台，点击鼠标的位置即为被测试的点。
高分辨率探头提高了分析结果的准确性。
出色的射线防护效果
满足不同厚度和不规则表面样品的测试要求。
φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
高精度移动平台能够定位测试点，重复定位精度小于0.005毫米。
测试口的高灵敏度传感器保护措施
产品优势
X射线荧光镀金测厚仪配备了二维移动样品平台，探测器和X光管可上下移动，从而实现三维运动。
双激光定位系统。
铅玻璃防护罩。
SDD探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机与喷墨打印机
型号：XRF镀层测厚仪 Thick800A
元素分析的范围包括从硫(S)到铀(U)。
可以同时分析超过30种元素，并具有五层镀层。
分析含量通常在ppm到99.9%之间。
镀层的厚度一般在50微米以内（具体因材料而异）。
可以选择的分析和识别模型数量不受限制。
相互独立的基体效应修正模型。
多变量非线性回收方法
适用温度范围为15℃至30℃。
电源要求：交流电220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外形尺寸：576毫米（宽）× 495毫米（深）× 545毫米（高）
样品室的尺寸为：500毫米（宽）× 350毫米（深）× 140毫米（高）。
重量：90公斤，标准配置为开放式样品腔。
X射线荧光镀金测厚仪的主要优势
1、快速：对每个样品的测量仅需1到3分钟，样品可直接使用或进行简单处理。
2、无损：通过物理测量，不会改变样品的特性。
3、可以对样品进行分析。
4、直观性：分析谱图明显，元素分布一目了然，定性分析迅速。
5、环保：检测过程中不会产生任何废气和废水。
公司介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是一家拥有自主知识产权的高科技企业，注册资本为46176万元。公司下属有五家全资子公司，分别是苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司及天瑞环境科技（仙桃）有限公司。此外，还控股三家子公司，分别是厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏测检测技术有限公司和上海磐合科学仪器股份有限公司。
