HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪
卓立汉光开发的新一代全焦面影像校正光谱仪， 采用全焦面非对称影像校正技术，极大程度的抑制多种光学像差，获得了理想的成像效果，从而提升了光谱仪的信号强度和分辨率水平。同时使光谱仪在宽波段范围内全焦面都拥有极小的像差，整个像面上都呈现出近乎完美的影像效果，大幅度拓展光谱分析的应用领域，可被用于空间分辨的实验，实现多通道实时探测，极大地提升光谱测试分析质量。
功能及特点：
支持双入口、双出口的结构配置，自动切换入口/出口，增强光谱测试应用灵活性。
采用非对称结构的全焦面影像 校正技术，使光谱仪在宽波段 范围内全焦面呈现出近乎完美的影像效果，获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率。
注：9 芯光纤束 /100um 芯径，成像面高度 3.8mm
内置光谱分辨率增强技术模块，进一步提升光谱仪分辨率及影像质量。
启用分辨率增强模块，分辨率可进一步提升约20%。
? 全新设计的三光栅在轴旋转塔台方案，提升光栅的有效使用面积，在光谱仪使用范围内，极大地提升光栅通光效率的一 致性。
光栅在轴旋转光栅利用率提高 15%。（1200g/mm 光栅，波长 550nm 位置）
? 消像差校正技术的运用，可获得更高的分辨率和对称性更好的峰形，提高了光子利用率，也可使波长信息更加精准。
?采用智能自动聚焦技术，多光栅切换使用时，使光谱仪处于分辨率卓越、影像卓越状态；
规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)
注1：狭缝光谱分辨率，常规光谱仪在中心波长435.83nm，狭缝宽度10um；
注2：CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长减小，倒线色散数值增大；
注4：直入狭缝无法配置电动狭缝。
典型型号表
光谱仪HiperS-3208i外形尺寸图：
