询价
- 新旧程度：全新
- 原产地：中国
- 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
- 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
- 仪器重量：50kg
E3 通用型 X 射线荧光光谱仪
E3 作为通用型能量色散型 X 射线荧光光谱仪，专为镀金、镀锡、镀铬、镀银、镀镍等多种镀层厚度检测设计，适配电子、五金、珠宝等多行业需求。无论是电子元器件的精密镀镍、珠宝首饰的镀金层检测，还是五金配件的镀铬防锈层测量，都能精准应对，无需为不同镀层类型更换专用设备，大幅降低企业检测成本。同时，仪器操作门槛低，配备直观的触控操作界面，内置各镀层检测的标准化流程，新人经 1-2 小时培训即可独立操作，避免因操作不当导致的检测失误，尤其适合生产车间多班次轮岗的质检场景。其核心部件从美国进口，如探测器、X 射线光管等，保障长期检测稳定性，即使每天高频次检测，也能避免因部件性能衰减导致的数据偏差；软件算法采用美国 EDXRF 前沿技术，能快速处理光谱数据，消除基体干扰 —— 比如检测钢铁基体上的镀锡层时，可有效过滤铁元素信号影响，精准计算镀层厚度。仪器所用标准样品附带权威第三方报告，确保校准与检测结果可信，应对客户审核或行业监管时更具说服力。此外，软件支持检测数据自动存储与导出，可按日期、样品类型生成质检报告，方便企业留存数据追溯记录，满足 ISO 质量体系等合规要求。在精密度、准确度、检出限上，E3 全面超越国内外同类仪器，对微米级薄镀层（如电子芯片的 5μm 镀金层）也能精准测量，避免因检测误差导致的产品质量隐患。针对大件、异形、不平整样品，无需拆分，凭借优化的样品腔与自动对焦探头，直接测试即可获结果 —— 像大型机械的异形镀铬部件、带花纹的珠宝镀银饰品，无需切割或打磨，既能保护样品完整性，又大幅提升检测效率，助力企业缩短生产质检周期。同时，仪器搭载多重防辐射设计，外壳采用加厚防辐射材料，样品腔门关闭后才启动检测，周边辐射剂量远低于安全标准，操作人员无需穿戴专业防护装备，可安心在车间、实验室等场景使用，兼顾检测效率与人员安全。测厚仪测厚仪测厚仪测厚仪
