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- 类型：XRF
- 产品别称：X荧光光谱仪
- 测量范围：钠（N）-铀（U）
- 显示方式：液晶显示触摸屏
- 探测器类型：FAST-SDD
- 探测器分辨率：125ev
- 测量时间：60~300秒
- 分析精度：0.05%(含量大于96%以上主元素成份RSD)
X荧光元素录井分析仪 EDX5500H简介
1、秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素 分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展将X射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于:通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
2、高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征;更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求;同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广。
3、优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体、使之性能更好、更便携。
4、独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动、及湿热等使用认证。
5、在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。
X荧光元素录井分析仪 EDX5500H仪器性能优势：
1、仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高;
2、测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染;
3、准直器极大化设计使样品受激光斑达150mm’保证测试信号的丰富性，提高测试精准度;
4、封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命;
5、分析样品速度快，最快可达60S，并且可同时分析40种元素;
6、高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响;
7、Fast-SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试高效稳定;
8、X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用;
9、光路防尘系统，有效阻止油性样品在抽真空时飞溅从而污染和破坏探测器窗口。
X荧光元素录井分析仪 EDX5500H仪器技术指标：
1、分析元素范围:Na(11)~U(92)
2、测试对像:用于岩屑、岩心元素含量分析
3、测量时间:60~300秒 40种元素同时分析
4、分析含量范围:ppm~99.99%
5、分析精度:0.05%(含量大于96%以上主元素成份RSD)
6、工作测试环境:-20°C到30°C
7、样品状态:钢环模具压样
8、仪器尺寸:W315mmxD420mmxH340mm
9、仪器重量:<33kg
仪器分析用户
中石油西部钻探工程有限公司
中石油长城钻探工程有限公司
中石油川庆钻探工程有限公司
中石油大庆钻探工程有限公司
中石油渤海钻探工程有限公司
中石油测井公司
中石化华北石油局
中石化华东石油局
中石化胜利油田地质录并公司
中石化江汉油田测录井公司
中石化河南油田勘探开发研究院
中海油天津分公司
