询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
镀金膜厚测试仪产品介绍
镀金膜厚测试仪hick800A是一种广泛使用的能量色散X射线荧光光谱仪，配有高分辨率的超薄φ窗SDD探测器，探测器分辨率可达139eV，性能优异。本产品采用上照式设计，具有多重防辐射保护装置和X射线发生器，保证辐射剂量符合国际标准。采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位技术和自主研发测厚分析软件的样品观察系统，各项指标均符合相关技术标准，性能先进。
技术指标
仪器：镀金膜厚测试仪
尺寸：576(宽)×495（深）×545（高）mm
样品室宽度为：500mm(宽度)×350mm(深)×140mm(高)。
样品台尺寸：230mm(宽)×210mm（深）
镀金膜厚测试仪 Z轴升降平台的升降范围为0~140mm。
该平台的移动测量范围为：总宽度50毫米×深层500mm×高度135mm。
分析方法：能量色散X射线荧光分析法与FPEC法相结合。
在原子序数16(硫)至92(铀)之间，XRF镀层测厚仪的检测元素范围可以进行检测。
与此同时，检验元素可一次分析24种，支持五层镀层的检验。
检测限制：金属镀层的分析灵敏度可达0.005μm。
厚度范围：一般情况下，镀层厚度分析为50。μm内(具体情况因材料而异)。
镀金无损厚度测量仪的稳定性：重复测量精度可达1%。
测试时间为30-60分钟。
探测器及分辨率：25毫米2SDD探测器在Be窗口，分辨率为140。±5eV。
起源：50KV/1000uA-W靶X光管及高压电源。
DMCA数字多道分析技术，可分析4096条数据通道。
固定准直器和滤光片Ф另外，0.2mm的准直器可以选择其它孔径和铝滤光片。
镀金无损厚度测量仪的定位特点：平台电机的重复定位精度低于0.1μm。
样品观察：配置CCD彩色摄像头，图像放大倍数达40倍，能清晰定位细微样品。
平台稳定性:Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力，使平台能以恒力上下移动，从而减轻Z轴电机的负担，提高Z轴的垂直度。
安全双重安全防护设施:包括防撞激光检测器和样品室门的开合传感器。系统待机时无辐射，工作时辐射水平远低于国际安全标准，配备软件联动装置。
工作环境的温度和湿度范围为：15℃至30℃，湿度不超过70%。
该仪器的重量为90公斤。
镀金膜厚测试仪工作电源为交流220V±建议使用5V交流电进行净化稳压。
