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- 探测器：FAST-SDD
- 电压：220V
- 分辨率：129eV
- 原理：XRF
- 元素范围：AL-U
镀层测厚仪x-ray膜厚分析仪EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区薄膜厚度检测仪)快速对平面、凹凸、转角、曲面等各种简单复杂的样品进行对焦分析，满足半导体、芯片、PCB等领域非接触微区镀层厚度的测试要求。双激光定位和保护系统通过自动X轴Y轴Z轴三维移动。
镀层测厚仪x-ray膜厚分析仪应用领域
电镀行业，电子通信，航天新能源，五金卫浴，电气设备
汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、大学和研究机构等
硬件配置极高
选用Fast-SDD探测器，高达129eV分辨率，可以准确地分析每一个元素的特征信号，同样可以轻松地检测到复杂的基材和多层复杂的涂层。
镀层测厚仪x-ray膜厚测厚仪结合大功率X光管，可以很好地保证信号输出和刺激的稳定性，降低仪器故障率。
高精度自动化X、Y、Z轴三维联动，更准确、更快速地实现测试点的定位(如弧形、弧形、螺纹、球面等)。
设计亮点
镀层测厚仪x-ray膜厚分析仪上照式设计可以适应更多异形细微样品的测试。与传统的光路相比，信号采集效率提高了两倍多。可变焦高精度摄像头，组合距离更正系统，满足细微商品、台阶、深槽、沉孔样品的测试要求。可编程自动位移平台，可多点检测细微密集型，大大提高样品测试效率。自带数据校对系统。
软件界面
人性化的软件界面，使操作更方便。
镀层测厚仪x-ray膜厚分析仪中文备注曲线，让您的操作更容易上手。
实时监控仪器硬件功能，让您的使用更放心。
江苏天瑞仪器有限公司是一家拥有自主知识产权的高新技术企业，注册资本49551.1725万元。拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫叶巍技术开发有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司、四川天瑞环境科技有限公司、河南天瑞环境科技有限公司、厦门质谱仪器有限公司、苏州智慧天瑞环保科技有限公司、湖北天瑞智海创新研究院九家全资子公司、江苏天瑞环境科技有限公司、上海天瑞环境科技有限公司
