询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
x荧光射线测厚仪简述
Thick800Ax射线测厚仪是门为涂层厚度测量精心设计的新型仪器。主要用于金属涂层厚度测量、电镀液和涂层含量测量；检测金属、铂、银等贵金属及各种装饰品的含量。
技术指标
x荧光射线测厚仪分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
检验元素：多24个元素，高达五层涂层
检出限制：可达2ppm，薄可检测0.005μm
分析内容：一般为2ppm到99.9%
涂层厚度：一般为50μ重复性在m以内(每种材料不同):可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135
x荧光射线测厚仪采用微孔矫直技术，小孔径为0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察:配置场景及当地两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф四种准直器组合0.3mm
仪器尺寸：690（W）x575（D）x660（H）mm
样品室大小：520（W）x395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x258(D）mm
X/Y/Z平台移速：额定速度200mm/s高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度：低于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度15℃～30℃
性能优势
x荧光射线测厚仪
样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检验
四种微孔聚焦准直器，自动选择
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，减少检出限制，提高检测精度
自动智能控制方法，键式操作！
启动自动退出自检，复位自动退出自检
打开盖子自动退出样品台，提升Z轴测试平台，方便放样
关盖推动样品台，减少Z轴测试平台，自动执行对焦
直接点击场景或局部场景图像选择测试点
点击软件界面检测按钮，自动执行检测并显示测试结果
