询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：Si-Pin探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
X射线荧光纳米测厚仪产品介绍
X射线测厚仪是一种检测金属涂层厚度的工业仪器，是一种无损检测设备。它具有X射线原理、检测速度快、检测精度高等优点，被广大电镀厂选用。它是一种功能强大的仪器，配备了门到门开发的软件，可以说是涂料行业的一种展示能力。Thick-800AX莹光测厚仪是天瑞集多年的经验。该仪器用于涂料行业，可自动软件操作，可多点检测。软件控制设备的测试点和移动平台。
参数规格
X射线荧光纳米测厚仪型号：Thick-800A
元素分析范围为硫(S)到铀（U）。
同时可分析30多种元素，五层涂层。
ppm到99.9%的分析含量。
涂层厚度一般为50μm以内(每种材料不同)
X射线莹光纳米测厚仪可选择多种分析和识别模型。
相互独立的基体效应校准模型。
多变量非线性回收程序
X莹光测厚仪的温度适应范围为15℃至30℃。
电源:交流220V±5V,建议配备交流净化稳压电源。
外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm
样品室大小：500(W)×350(D)×140(H)mm
重量：90kg
产品特点
X射线莹光纳米测厚仪开放式样品腔。
精密二维移动样品平台、探测器和x光管上下移动，实现三维移动。
双激光定位设备。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子线路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机和喷码机
主要优点
X射线莹光纳米测厚仪满足不同厚度样品和不规则表面样品的测试要求
φ0.1mm小孔准直器能满足细微测试点的需要
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度低于0.005mm
选用高度定位激光，可准确定位检测高度
定位激光确定定位光点，确保测试点与光点对齐
鼠标可以控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析数据更加强大
良好的射线屏蔽效果
检测口高度敏感性传感器保护
产品用途
测量金属涂层厚度，测定电镀液和涂层含量。
X射线莹光纳米测厚仪主要用于贵金属加工及装饰加工行业；银行、装饰营销及检测中心；电镀行业。
