询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
荧光测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验。它是涂料行业的一种仪器，可以通过软件控制设备的测试点和移动平台进行全自动软件操作和多点检测。是一种功能强大的仪器，配合门开发的软件，在涂料行业可谓施展才华。
荧光测厚仪应用领域
铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，
□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基材－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
荧光测厚仪
应用
1快速:一般测量样品只需30SS～300S，样品可不处理或简单处理；
2无损：物理测量，不改变样品特性；
3：样品可分析；
4直观：直观分析谱图，元素分布场景清晰，定性研究速度快；
5环保：检测过程中无废气、污水。
仪器配备
1硬件：一台主机，包括以下主要部件：
(1)X光管(2)半导体探测器
(3)放大电路(4)样品移动平台
(5)高清摄像头(6)高压系统
(7)上照，开放式样品腔(8)双激光定位
(9)玻璃屏蔽罩
2软件：天瑞X射线荧光光谱仪Fpthick分析软件V1.00
3每台计算机，每台打印机
计算机(品牌、P4、液晶显示)、打印机(佳能、彩色喷墨打印机)
4资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验证书、货运单、保修单等应提供各一份材料。
5标准配件
准直孔：0.1X1.0mm(已内置于仪器中)
荧光测厚仪 参数规格
1分析要素范围：S-U
2同时可分析5层以上涂层
3分析薄厚检出限达0.005μm
4多次测量的重复性可达0.01μm
5定位精度：0.1mm
6测量时间：30s-300sss
7计数：1300-8000cpsps
8Z轴升降范围：0-140mm
9X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
x-莹光测厚仪的功能特点
1满足不同厚度样品和不规则表面样品的测试要求；
2φ0.1mm小孔准直器能满足细微测试点的需要；
3移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4选用高度定位激光，可准确定位检测高度；
5定位激光定位光点，确保测试点与光点对齐；
6鼠标可以控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点；
7高分辨率探头使分析数据更多；
8良好的射线屏蔽效果；
9检测口高度敏感性传感器保护
