- 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
- 探测器:Si-Pin探测器
- 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求:15℃至30℃。
- 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
金属材料分析x射线荧光镀层测厚仪应从质量、价格、售后等方面进行判断。天瑞仪器是一家x光涂层测厚仪制造商,分析仪上市公司生产的Thick800ax光涂层测厚仪是天瑞集多年的经验。门研发用于涂料行业的厚度测量仪器,可自动软件操作,可多点检测,由软件控制设备测试点和移动平台组成。是一款功能强大的涂层测厚仪器,配备了门为其开发的软件,在涂料行业可谓施展才华,得到了客户的广泛认可
功能特点
金属材料分析x射线荧光镀层测厚仪满足不同厚度样品和不规则表面样品的测试要求
φ0.1mm小孔准直器能满足细微测试点的需要
高移动平台可定位测试点,重复定位小于0.005mm
选用高度定位激光,可准确定位检测高度
定位激光确定定位光点,确保测试点与光点对齐
鼠标可以控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析数据更加强大
良好的射线屏蔽效果
检测口高度敏感性传感器保护
标准配备
金属材料分析x射线莹光涂层测厚仪开放式样品腔。
X光涂层测厚仪精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下移动,实现三维移动。
双激光定位设备。
铅玻璃屏蔽罩。
金属材料分析x射线荧光镀层测厚仪
信号检测电子线路。
光谱测厚仪的高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机和喷码机
技术指标
型号:Thick800A
元素分析范围为硫(S)到铀(U)。
金属材料分析x射线荧光镀层测厚仪可分析30多种元素和五层涂层。x光涂层测厚仪的涂层厚度一般为50μm以内(每种材料不同)
随机多个可选的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校准模型。
荧光光谱测厚仪多变量非线性回收程序
适应范围为15℃至30℃。
电源:交流220V±5V,建议配备交流净化稳压电源。
外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm
样品室大小:500(W)×350(D)×140(H)mm
重量:90kg
应用域
检测黄金、铂、银等贵金属及各种饰品的含量.
测量金属涂层厚度,测定电镀液和涂层含量。
X-RAY荧光光谱测厚仪主要用于贵金属加工及装饰加工行业;装饰营销及检测中心;电镀行业。
厂家介绍
天瑞仪器成立于1992年年,X研究、生产、销售荧光光谱分析仪起步,主要从事光谱仪、色谱仪、质谱仪和应用软件的研发、生产、营销及相关技术服务。它是一家在中国创业板上市的分析仪公司。企业产品主要用于环境保护和安全(气体、土壤、水污染检查等)、矿产及资源(地质、采矿)、商品检验甚至人体微量元素检验等领域。