询价
- 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
- 探测器：SDD探测器
- 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求：15℃至30℃。
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
天瑞公司研发的X荧光光谱测厚仪结合了多年经验，专门设计用于镀层行业。这款仪器具备全自动软件操作，支持多点测试，并由软件控制测试点及移动平台。作为一款功能强大的仪器，配合专为其开发的软件，在镀层行业中表现优异。
详情介绍
性能特点
X荧光光谱测厚仪能够满足不同厚度及不规则表面样品的测试需求。
φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。
高精度移动平台能够定位测试点，重复定位的精度小于0.005毫米。
X荧光光谱测厚仪使用高精度激光定位，能够自动确定测试高度。
使用定位激光来确定光斑位置，以确保测试点与光斑对齐。
鼠标可以控制移动平台，点击鼠标的位置即为测量点。
高分辨率探头能够提高分析结果的准确性。
优良的射线防护效果
测试口的高度敏感性传感器保护措施
天瑞厂家THICK800A测厚仪的技术参数。
型号：厚型800A
元素分析的范围涵盖从硫（S）到铀（U）。
可同时分析超过30种元素，并具备五层镀层的能力。
分析含量通常在ppm到99.9%之间。
X荧光光谱测厚仪测量的镀层厚度通常在50微米以内（不同材料的厚度可能会有所不同）。
可以选择的多种分析和识别模型。
相互独立的基底效应修正模型。
多变量非线性回收方法
适用温度范围为15℃到30℃。
电源要求：交流电220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576毫米（宽）× 495毫米（深）× 545毫米（高）
样品室的尺寸为500毫米（宽）×350毫米（深）×140毫米（高）。
体重：90公斤
X荧光光谱测厚仪的标准配置
开放式样品室。
精密的二维移动样品平台，配备可上下移动的探测器和X光管，从而实现三维移动功能。
双激光定位设备。
铅玻璃防护罩。
Si-Pin探测器是一种探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源设备。
X光管。
高度传感器
保护传感器
电脑和喷墨打印机
应用领域
对黄金、铂金、银等贵金属及各种首饰的成分进行检测。
金属涂层的厚度测量以及电镀液及涂层成分的分析。
X荧光光谱测厚仪主要应用于贵金属加工和珠宝制作行业，以及银行、珠宝销售和检测机构，此外还适用于电镀行业。
